首页/ 浙江东晶电子股份有限公司/ 专利详情

一种自动微调机的测试头

基本信息

申请号 CN201520291180.3 申请日 -
公开（公告）号 CN204649794U 公开（公告）日 2015-09-16
申请公布号 CN204649794U 申请公布日 2015-09-16
分类号 G01R1/073(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 詹超;廖其飞;吴宗泽;池旭明;王臻;林土全 申请（专利权）人 浙江东晶电子股份有限公司
代理机构 金华科源专利事务所有限公司 代理人 胡杰平
地址 321025 浙江省金华市宾虹西路555号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型属于制造石英晶体元件的设备技术领域，具体是一种自动微调机的测试头，包括固定座，其特征是固定座设有探针，固定座上设置固定套筒，挡片固定在挡片固定杆上，挡片固定杆放置在固定套筒内，挡片固定杆与固定套筒之间通过弹簧支撑，挡片上设置有能使探针穿过的通孔，通孔的数量和位置与探针的数量和位置相匹配。本实用新型由于采用上述技术方案，在测试前运用测试头上自带的挡板对物料进行固定，然后探针进行接触测试动作，保证了物料位置的固定性，提高了探针的测试精度；测试完成后，探针先离开物料，挡片后离开物料，解决了探针上升过程中将物料粘起的问题，使微调机搬送载条更加顺畅，提高了微调测试精度与微调效率。