一种准直虚像视景系统几何变形测量方法
基本信息
| 申请号 | CN202110854258.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114119380A | 公开（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申请公布号 | CN114119380A | 申请公布日 | 2022-03-01 |
| 分类号 | G06T5/00（2006.01）I;G06T7/70（2017.01）I;H04N5/217（2011.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 丁永晖;廖恒宇;汤勇;王林 | 申请（专利权）人 | 上海华模科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海汇齐专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 郭丹丹 |
| 地址 | 200000上海市浦东新区祝桥镇祝潘路68号1层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种准直虚像视景系统几何变形测量方法，包括以下测量步骤：S1、建立5°×5°标准点阵，通过在左右眼点架设经纬仪，并根据设计眼点生成5°×5°标准点阵；S2、建立虚像点阵，通过在视景系统中以标准点阵原点为基准，并生成5°间隔的虚像点阵；S3、采集虚像点阵数据；S4、处理测量数据。本发明通过设计规范化的准直虚像视景系统几何变形测量方法，能够快速、高效形成对比数据，便于模拟器麦拉膜安装调试、投影仪融合校正，通过设计快速高效、且具有标准化特征的虚像显示系统校正、调试方法，易于推广，可有效提高准直虚像显示质量。 |
