PCIe测试治具码型自动切换方法及其装置
基本信息

| 申请号 | CN202110508494.4 | 申请日 | - |
| 公开(公告)号 | CN113295946A | 公开(公告)日 | 2021-08-24 |
| 申请公布号 | CN113295946A | 申请公布日 | 2021-08-24 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R1/20(2006.01)I;H04L12/26(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
| 发明人 | 余守军 | 申请(专利权)人 | 深圳市精泰达科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京维正专利代理有限公司 | 代理人 | 吴珊 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙华区福城街道茜坑社区观澜大道19号9栋101、201、301 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申请涉及PCIe接口测试的技术领域,尤其是涉及PCIe测试治具码型自动切换方法,包括以下步骤:待测板通过PCIe接口连接测试治具,测试治具连接用于获取波形信号的示波器;脉冲源通过接入待测板作为脉冲的来源;脉冲源通过switch开关将脉冲信号输入到待测板的PCIe port的lane0端;将测试治具的Rx lane0端与switch开关的输出端进行连接;MCU通过EN端向switch开关发送控制信号进而自动控制switch开关的通断,每通断一次脉冲完成一次PCIe速率切换;通过示波器保存每一次PCIe速率切换后所相应的波形信号。本申请无需人工手动进行速率切换,减少测试工程师的工作量,方便测试。 |





