一种PCIe测试治具Lane自动切换方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN202110428298.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113300906A | 公开（公告）日 | 2021-08-24 |
| 申请公布号 | CN113300906A | 申请公布日 | 2021-08-24 |
| 分类号 | H04L12/26（2006.01）I;G01R31/00（2006.01）I;G01R1/20（2006.01）I | 分类 | 电通信技术; |
| 发明人 | 余守军 | 申请（专利权）人 | 深圳市精泰达科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京维正专利代理有限公司 | 代理人 | 吴珊 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙华区福城街道茜坑社区观澜大道19号9栋101、201、301 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请涉及一种PCIe测试治具Lane自动切换方法及装置，属于PCIe接口测试技术的领域，自动切换包括以下步骤：S1：将测试治具接到待测背板的PCIe接口上；S2：将测试治具、多路切换开关、示波器、MCU和上位机连接好，其中，测试治具lane1‑laneN的信号线分别和多路切换开关的输入口一一对应连接；S3：进入lane测试，示波器抓取测试波形，并将测试波形发送给上位机；S4：是否完成测试，若是则进入S5，若否，则返回S3；S5：上位机发送切换指令给MCU，MCU控制多路切换开关切换到下一个lane数据信号输出；S6：重复S3‑S5步骤，直到完成所有lane的测试。本申请具有提高了测试效率的效果。 |
