PCIe测试治具及PCIe测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202110428301.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113281583A | 公开（公告）日 | 2021-08-20 |
| 申请公布号 | CN113281583A | 申请公布日 | 2021-08-20 |
| 分类号 | G01R31/00（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 余守军 | 申请（专利权）人 | 深圳市精泰达科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京维正专利代理有限公司 | 代理人 | 吴珊 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙华区福城街道茜坑社区观澜大道19号9栋101、201、301 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请涉及PCIe测试治具及PCIe测试方法，PCIe测试治具，包括底座，底座内设有信号端子和电阻端子，信号端子用于与PCLe端口电性连接，电阻端子用于与50欧姆的电阻电性连接；底座内设有切换机构，切换机构连接于信号端子和电阻端子之间；底座顶面开设有通孔。PCIe测试方法，包括：将从PCLe接口引出的时钟clock和数据data分别与对应的PCLe测试治具电性连接；使用示波器，将示波器的ch1、ch2、ch3和ch4分别插入对应PCLe测试治具上的通孔，依次对PCLe接口的全部通道进行测试。本申请具有提高测试效率的效果。 |
