温度检测方法和装置以及存储介质、处理器
基本信息
| 申请号 | CN201710230214.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107014508B | 公开（公告）日 | 2020-02-11 |
| 申请公布号 | CN107014508B | 申请公布日 | 2020-02-11 |
| 分类号 | G01K7/02 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘国营;赵长兵;李慧勇;李增利;张鉴;刘兴昌;常亮;王敬仁;欧阳强;高龙集;常红旗;郝立鹏;蒋玉红;薛利民;侯红民;康颖;张嗣勇;李利霞;李兴 | 申请（专利权）人 | 北京德威特电气科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 北京德威特继保自动化科技股份有限公司;北京德威特电气科技股份有限公司 |
| 地址 | 101300 北京市顺义区马坡聚源工业区聚源中路17号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种温度检测方法和装置以及存储介质、处理器。温度检测方法用于检测低压开关设备的温度，其中，温度检测方法包括：获取第一温度传感器检测到的第一温度信号，其中，第一温度传感器与导热器件连接，导热器件与低压开关设备的触头连接，导热器件用于将低压开关设备散发的热量传递给第一温度传感器；以及根据第一温度信号检测低压开关设备的温度。本发明解决了相关技术将温度传感器设置在低压开关的处理器电路板上，导致对低压开关设备的温度检测结果不准确的技术问题。 |
