一种用于转子线圈外径的高点测量仪
基本信息
| 申请号 | CN202121343621.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215572546U | 公开（公告）日 | 2022-01-18 |
| 申请公布号 | CN215572546U | 申请公布日 | 2022-01-18 |
| 分类号 | G01B5/00（2006.01）I;G01B5/08（2006.01）I;G01B5/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 赵岩龙 | 申请（专利权）人 | 陕西拓普达精密设备有限公司 |
| 代理机构 | 北京中济纬天专利代理有限公司 | 代理人 | 石淑珍 |
| 地址 | 710016陕西省西安市未央区经济技术开发区明光路166号凯瑞D座5层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种用于转子线圈外径的高点测量仪，所述高点测量仪包括操作平台，在所述操作平台上水平对应且间距设有将转子线圈的转轴两端分别支撑的调节机构和滑动机构，在所述调节机构和滑动机构一侧的所述操作平台上还设有沿转轴支撑状态的长度方向滑动设置的立式量表。该高点测量仪可以对不同直径的转子线圈的表面平整度进行有效且精准的测量，也可以满足对不同直径的转子线圈的测量要求，尤其适用于转子动平衡加重后高点的检测与修正。该装置支架镶有耐磨性极好的宝石材料，在转动转轴及测量过程中不易磨损，可有效降低因支架磨损带来的测量误差，以保证高点测量仪整体具有较高的测量精度。 |
