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一种霍尔芯片老化测试装置及测试方法

基本信息

申请号 CN202010581126.8 申请日 -
公开（公告）号 CN111665433A 公开（公告）日 2020-09-15
申请公布号 CN111665433A 申请公布日 2020-09-15
分类号 G01R31/28(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 张文伟;宋瑞潮 申请（专利权）人 西安中科阿尔法电子科技有限公司
代理机构 西安弘理专利事务所 代理人 西安中科阿尔法电子科技有限公司
地址 710100陕西省西安市长安区上林苑一路15号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开一种霍尔芯片老化测试装置，包括底座，底座上固定有一个或多个老化测试体；老化测试体包括同轴设置且可拆卸的第一线圈架和第二线圈架，第一线圈架上缠绕有第一线圈，第二线圈架中缠绕有第二线圈，第一线圈与第二线圈的引线焊接成为一条线缠绕的线圈，第一线圈与第二线圈的绕向相同，第一线圈架和第二线圈架之间放置有PCB引脚放大板；每个老化测试体的线圈均与一根集成总线连接，每个老化测试体的PCB引脚放大板上的放大端均通过另一根集成总线引出；本发明还公开一种霍尔芯片老化测试方法。本发明解决了现有技术中存在的老化测试难以批量实现的问题。