一种表面缺陷检测方法及检测装置

基本信息

申请号 CN202010664960.3 申请日 -
公开(公告)号 CN112037166A 公开(公告)日 2020-12-04
申请公布号 CN112037166A 申请公布日 2020-12-04
分类号 G06T7/00;G06T7/11;G06N3/04;G06N3/08 分类 计算;推算;计数;
发明人 王明爽 申请(专利权)人 武汉迈格驷友科技有限公司
代理机构 北京思格颂知识产权代理有限公司 代理人 武汉迈格驷友科技有限公司
地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区茅店山中路5号武钢高新产业园1号楼1-304
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提出了一种表面缺陷检测方法及检测装置,该方法包括:将待检测产品表面图像按预设规则进行切割生成若干待检测图像块输入已由正常样本训练的预设检测器,并获取各待检测图像块的特征值及重构的输出图像块,当检测器判断至少一待检测图像块的特征值满足第一预设条件,或输入与输出的待检测图像块的差异满足第二预设条件时即可直接判断该产品表面存在缺陷。本方法无需预先准备各种缺陷样本,对于不同类型的缺陷具有很强的泛化能力,能应对未知缺陷的场景,并且将图形切割成多个图像块后,产品表面图像在局部呈现的模式更简单,针对它检测缺陷会更容易,缺陷检测效率、准确率都更高。