一种芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201920584377.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN210465602U | 公开（公告）日 | 2020-05-05 |
| 申请公布号 | CN210465602U | 申请公布日 | 2020-05-05 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R1/04;G01R19/25;G05F1/46;G05B19/042 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 郭观水;刘志赟 | 申请（专利权）人 | 深圳市致宸信息科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市华盛智荟知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 深圳市致宸信息科技有限公司 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道科技南八路2号豪威科技大厦2101室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种芯片测试装置，该芯片测试装置包括测试基板和测试座，所述测试基板包括供电模块、电压检测模块和电压管理模块，所述测试座上可放置待测芯片；所述芯片测试装置中的供电模块能为所述待测芯片提供各种类型、大小的电压，使所述待测芯片能在所述芯片测试装置中进行多方位测试；另外，在待测芯片的测试过程，所述电压检测模块能检测所述待测芯片两端的实时电压，所述供电模块能基于所述实时电压和所述电压管理模块对待测芯片两端的供电电压进行实时调节，以使所述待测芯片两端的电压保持恒定，保证了待测芯片在所述芯片测试装置的测试效果。 |
