一种芯片测试座
基本信息
| 申请号 | CN201920612417.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN210015133U | 公开（公告）日 | 2020-02-04 |
| 申请公布号 | CN210015133U | 申请公布日 | 2020-02-04 |
| 分类号 | G01R1/04 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 郭观水;刘志赟 | 申请（专利权）人 | 深圳市致宸信息科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市华盛智荟知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 深圳市致宸信息科技有限公司 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道科技南八路2号豪威科技大厦2101室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及芯片测试技术领域，提供一种芯片测试座，包括固定座，固定座自底部向上一次开设有容置槽和螺孔；散热器，散热器包括导热部和散热部，导热部的下端经螺孔设于容置槽内，且导热部的下端固定连接有防脱件；压接件，压接件套设在导热部的外部，其外壁与螺孔螺纹连接，压接件的底部压接在防脱件的上方；热电偶，热电偶的检测端与导热部的底端平齐；本实用新型旨在提供一种散热性能优良的芯片测试座。 |
