退出

  • 浏览历史
  • 清除
  • 光盈科技

    武汉光盈科技有限公司

    存续
    • 地址:武汉东湖新技术开发区高新大道999号武汉新能源研究大楼G6-1102
    • 简介:-
    • 商标信息 0
    • 专利信息 5
    • 软件著作权 0
    • 作品著作权 0
    • 网站备案 0

    商标信息0

    暂无信息 暂无商标信息

    专利信息5

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 偏振复用的相位损伤评估方法及装置 发明专利 CN202010670431.4 CN111865453A 2020-10-30
    2 适用于光信号标记及解析装置、光信号标记及解析方法 发明专利 CN201410380089.9 CN104159170B 2018-05-22
    3 适用于光信号标记及解析装置、光信号标记及解析方法 发明专利 CN201410380089.9 CN104159170A 2018-05-22
    4 一种色散测量系统 发明专利 CN201410359252.3 CN104243018B 2017-08-25
    5 一种色散测量方法及系统 发明专利 CN201410359252.3 CN104243018A 2017-08-25

    软件著作权0

    暂无信息 暂无软件著作权

    作品著作权0

    暂无信息 暂无作品著作权

    网站备案0

    暂无信息 暂无网站备案
    vip

    企业联系方式

    关注公众号,免费查看企业全部联系方式

    请使用微信扫描二维码关注「满商公司网」