一种FPGA电路故障注入方法及其IP核

基本信息

申请号 CN202210247238.9 申请日 -
公开(公告)号 CN114675624A 公开(公告)日 2022-06-28
申请公布号 CN114675624A 申请公布日 2022-06-28
分类号 G05B23/02(2006.01)I 分类 控制;调节;
发明人 李悦;朱翔;赵旭;韩建伟 申请(专利权)人 中国科学院国家空间科学中心
代理机构 北京方安思达知识产权代理有限公司 代理人 -
地址 100190北京市海淀区中关村南二条1号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及航天技术及FPGA电路单粒子效应评估技术领域,特别涉及一种FPGA电路故障注入方法及其IP核;所述IP核包括:串行数据收发模块和数据协议解析模块、寄存器模块、故障集存储模块、单帧重构指令存储模块、负载集存储模块、读回集存储模块、FLASH接口控制模块、JTAG接口控制模块和DUT接口控制模块。本发明提供的FPGA电路故障注入方法及其IP核兼容型强,适用于多种类型的FPGA芯片的故障注入,支持逐位注入模式和累积注入模式,支持多种故障类型,并且DUT接口灵活,使用方便。