一种FPGA电路故障注入方法及其IP核
基本信息
申请号 | CN202210247238.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114675624A | 公开(公告)日 | 2022-06-28 |
申请公布号 | CN114675624A | 申请公布日 | 2022-06-28 |
分类号 | G05B23/02(2006.01)I | 分类 | 控制;调节; |
发明人 | 李悦;朱翔;赵旭;韩建伟 | 申请(专利权)人 | 中国科学院国家空间科学中心 |
代理机构 | 北京方安思达知识产权代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 100190北京市海淀区中关村南二条1号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及航天技术及FPGA电路单粒子效应评估技术领域,特别涉及一种FPGA电路故障注入方法及其IP核;所述IP核包括:串行数据收发模块和数据协议解析模块、寄存器模块、故障集存储模块、单帧重构指令存储模块、负载集存储模块、读回集存储模块、FLASH接口控制模块、JTAG接口控制模块和DUT接口控制模块。本发明提供的FPGA电路故障注入方法及其IP核兼容型强,适用于多种类型的FPGA芯片的故障注入,支持逐位注入模式和累积注入模式,支持多种故障类型,并且DUT接口灵活,使用方便。 |
