一种高塑性贵金属材料的透射电镜样品制样方法
基本信息
| 申请号 | CN202111399095.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114166596A | 公开（公告）日 | 2022-03-11 |
| 申请公布号 | CN114166596A | 申请公布日 | 2022-03-11 |
| 分类号 | G01N1/28（2006.01）I;G01N1/32（2006.01）I;G01N23/20008（2018.01）I;B24B7/10（2006.01）I;B24B29/02（2006.01）I;B24B49/16（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 袁晓虹;刘毅;陈国华;毕勤嵩;付全;毛端;王一晴;甘建壮;赖丽君;陈雯;刘莉;钱栋;赵高正 | 申请（专利权）人 | 昆明贵金属研究所 |
| 代理机构 | 天津煜博知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 朱维 |
| 地址 | 650106云南省昆明市高新技术开发区科技路988号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种高塑性贵金属材料的透射电镜样品制样方法，属于贵金属材料分析测试技术领域。本发明线切割高塑性贵金属材料得到正方形金属片，金属片两面粗磨去除切割划痕至厚度不高于100μm，清洗晾干，采用透射样品冲孔机进行冲片得到圆片样品；将圆片样品等距粘接在样品台表面，再将样品台固定于精研一体机磨抛位置；以水为冷却液，采用不同目数的Al2O3磨盘进行磨抛逐级减薄至厚度为15～20μm；采用抛光绒布低抛以消除划痕和应力集中得到透射圆片样品；在氩气氛围中，采用离子减薄仪进行双离子束顺时针和逆时针旋转轰击减薄穿孔得到减薄透射电镜样品。本发明方法可获得大面积无应力条纹或花样的薄区以供透射电镜有效观察表征该类材料的微观组织结构。 |
