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用于测试存储器件的电路和方法

基本信息

申请号 CN201310108760.X 申请日 -
公开（公告）号 CN104078082B 公开（公告）日 2017-11-14
申请公布号 CN104078082B 申请公布日 2017-11-14
分类号 G11C29/56 分类 信息存储;
发明人 童明照 申请（专利权）人 芯成半导体（上海）有限公司
代理机构 北京商专永信知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 芯成半导体（上海）有限公司
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区松涛路647弄13号
法律状态 -

摘要

摘要 本申请涉及一种用于测试存储器件的电路和方法。存储器件具有可由多个地址线寻址并且可由多个数据线输入/输出数据的多个存储块。该电路包括：测试型态生成器，其耦接到多个地址线中的第一部分以接收测试数据，测试型态生成器用于存储测试数据，并基于测试数据生成写测试向量和读测试向量，其中写测试向量关联于读测试向量；多路选择器，其耦接到测试型态生成器，多路选择器用于可选择地将写测试向量传送到多个存储块中的一个受测存储块，以使得写测试向量能够被写入受测存储块；以及比较器，其耦接到测试型态生成器以及受测存储块，比较器用于比较读测试向量与由受测存储块生成且关联于写测试向量的读出信号，并生成指示比较结果的标识。