进入ASRAM芯片内部测试模式的电路
基本信息
| 申请号 | CN201110158152.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN102831927B | 公开（公告）日 | 2015-04-01 |
| 申请公布号 | CN102831927B | 申请公布日 | 2015-04-01 |
| 分类号 | G11C11/413(2006.01)I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 童明照 | 申请（专利权）人 | 芯成半导体（上海）有限公司 |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 芯成半导体（上海）有限公司 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区松涛路647弄12号-13号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明的进入ASRAM芯片内部测试模式的电路，包括地址代码比较器，用于检测ASRAM芯片中地址线上的代码与预定义的验证代码是否匹配；测试模式检测器，用于判断是否进入内部测试模式；测试模式时钟生成器，用于产生用于所述测试模式译码器的时钟信号；以及测试模式译码器，用于产生测试控制信号。本发明的电路，利用ASRAM芯片中已有的pin脚，并通过一段特殊代码来触发进入其内部测试模式，降低产品测试的难度。 |
