商标信息29
| 序号 | 商标名称 | 国际分类 | 注册号 | 状态 | 申请日期 | 操作 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | REVIEW SEM | - | 64558577 | 等待实质审查 | 2022-05-11 | 查看 |
| 2 | 计算光刻 | - | 64556620 | 等待实质审查 | 2022-05-11 | 查看 |
| 3 | - | - | 64555096 | 等待实质审查 | 2022-05-11 | 查看 |
| 4 | - | - | 64549277 | 等待实质审查 | 2022-05-11 | 查看 |
| 5 | PANGEN | - | 64548333 | 等待实质审查 | 2022-05-11 | 查看 |
| 6 | - | - | 64537109 | 等待实质审查 | 2022-05-11 | 查看 |
| 7 | - | - | 64535941 | 等待实质审查 | 2022-05-11 | 查看 |
| 8 | 图形 | 42类-网站服务 | 55639683 | 初审公告 | 2021-04-27 | 查看 |
| 9 | 东方晶源 DJEL | 07类-机械设备 | 55410744 | 商标已注册 | 2021-04-20 | 查看 |
| 10 | 东方晶源 DJEL | 35类-广告销售 | 55374477 | 驳回复审中 | 2021-04-20 | 查看 |
专利信息62
| 序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 缺陷检测模型训练方法和缺陷检测方法及装置和设备 | 发明专利 | CN202011534533.X | CN114723651A | 2022-07-08 |
| 2 | 晶圆缺陷检测方法和装置、设备及存储介质 | 发明专利 | CN202011519208.6 | CN114723650A | 2022-07-08 |
| 3 | 缺陷分类方法和装置、设备及存储介质 | 发明专利 | CN202011510556.7 | CN114723647A | 2022-07-08 |
| 4 | 一种光刻机匹配方法 | 发明专利 | CN202210267076.5 | CN114660904A | 2022-06-24 |
| 5 | 使用多个电子束的图案化衬底成像 | 发明专利 | CN201880027570.6 | CN110770874B | 2022-06-24 |
| 6 | 使用多个电子束的图案化衬底成像 | 发明专利 | CN201880027570.6 | CN110770874A | 2022-06-24 |
| 7 | 一种优化掩模版图的方法 | 发明专利 | CN201710351038.7 | CN108931883B | 2022-06-21 |
| 8 | 一种优化掩模版图的方法 | 发明专利 | CN201710351038.7 | CN108931883A | 2022-06-21 |
| 9 | 一种解决掩模版着色边界冲突的方法、装置和计算机设备 | 发明专利 | CN202210260536.1 | CN114638189A | 2022-06-17 |
| 10 | 一种套刻标记的优化筛选方法、装置、设备、存储介质及程序产品 | 发明专利 | CN202210085558.9 | CN114563928A | 2022-05-31 |
软件著作权8
| 序号 | 软件名称 | 软件简称 | 版本号 | 登记号 | 分类号 | 首次发表日期 | 登记批准日期 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 自动缺陷分析软件 | ADC Review | V1.1.1.8 | 2020SR1824828 | - | - | 2020-12-16 |
| 2 | 电子束检测控制软件 | System GUI | V1.1.1.8 | 2020SR1824730 | - | - | 2020-12-16 |
| 3 | 掩模版多边形数字图像提取软件 | - | V1.0 | 2015SR174508 | - | - | 2015-09-09 |
| 4 | 半导体光刻制程工艺窗口评估软件 | 制程窗口评估 | V1.0 | 2015SR167706 | - | - | 2015-08-28 |
| 5 | 基于数字图像的xMO光掩模最优化软件 | xMO数字图像最优化软件 | V1.0 | 2015SR138520 | - | - | 2015-07-21 |
| 6 | 层间覆盖区域检测插件 | Contact Coverage | V1.0 | 2015SR070910 | - | 2014-10-22 | 2015-04-29 |
| 7 | 桥接狭窄缺陷检测插件 | Bridge Necking Defect Detector | V1.0 | 2015SR053282 | - | 2014-10-22 | 2015-03-25 |
| 8 | 集成电路芯片最优设计和检测数据平台 | eScope | V1.0 | 2014SR195397 | - | 2014-10-22 | 2014-12-15 |
作品著作权1
| 序号 | 作品名 | 作品类别 | 登记号 | 创作完成日期 | 首次发表日期 | 登记批准日期 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 东方晶源 | - | 国作登字-2015-F-00119300 | - | 2015 | 2015 |
网站备案3

| 序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 东方晶源微电子科技(北京)有限公司 | www.dfjy-jx.com | 京ICP备16009693号 | 企业 | 2019-10-30 |
| 2 | 东方晶源微电子科技(北京)有限公司 | www.dfjy-jx.com | 京ICP备16009693号 | 企业 | 2019-10-30 |
| 3 | - | www.dfjy-jx.com | 京ICP备16009693号 | 企业 | 2019-10-30 |
邮箱
电话
公司简介
企业联系方式
关注公众号,免费查看企业全部联系方式
请使用微信扫描二维码关注「满商公司网」
满商公司网
2亿企业免费查
企业信息变动早知道
欢迎登录
没有账户?立即注册
获取验证码
找回密码
返回登录
欢迎登录
返回登录
获取验证码