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    南京南分分析仪器有限责任公司

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    • 地址:白下区中华路26号
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    专利信息3

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 基于现场可编程外围芯片的分析仪器智能测控装置 发明专利 CN200510040346.5 CN100361071C 2008-01-09
    2 基于现场可编程外围芯片的分析仪器智能测控平台 发明专利 CN200510040346.5 CN1725174A 2006-01-25
    3 组合式多组分智能分析仪 发明专利 CN200510040345.0 CN1715927A 2006-01-04

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