商标信息16
序号 | 商标名称 | 国际分类 | 注册号 | 状态 | 申请日期 | 操作 |
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1 | - | 35类-广告销售 | 57494721 | 等待实质审查 | 2021-07-06 | 查看 |
2 | HIGHYIELD | 09类-科学仪器 | 57494454 | 等待实质审查 | 2021-07-06 | 查看 |
3 | ANGSTROM EXCELLENCE | 35类-广告销售 | 57491387 | 等待实质审查 | 2021-07-06 | 查看 |
4 | - | 35类-广告销售 | 57489899 | 商标申请中 | 2021-07-06 | 查看 |
5 | - | 37类-建筑修理 | 57489368 | 商标申请中 | 2021-07-06 | 查看 |
6 | - | 37类-建筑修理 | 57489310 | 商标申请中 | 2021-07-06 | 查看 |
7 | ANGSTROM EXCELLENCE | 09类-科学仪器 | 57486268 | 等待实质审查 | 2021-07-06 | 查看 |
8 | ANGSTROM XCELLENCE | 37类-建筑修理 | 57483755 | 商标申请中 | 2021-07-06 | 查看 |
9 | 埃芯 | 09类-科学仪器 | 57482167 | 等待实质审查 | 2021-07-06 | 查看 |
10 | - | 09类-科学仪器 | 57481282 | 等待实质审查 | 2021-07-06 | 查看 |
专利信息1
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 一种半导体尺寸的测量计算方法、装置及计算机存储介质 | 发明专利 | CN202110744197.X | CN113420260A | 2021-09-21 |
软件著作权0
作品著作权0
网站备案0
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