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商标信息 2
专利信息 3
软件著作权 1
作品著作权 0
网站备案 0

商标信息2

序号	商标名称	国际分类	注册号	状态	申请日期	操作
1	泽尔尼	09类-科学仪器	5276471	商标无效	2006-04-10	查看
2	XOMI	09类-科学仪器	5276470	商标无效	2006-04-10	查看

专利信息3

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	集成电路工艺检测设备(Xi-Line 500)	外观专利	CN200930099015.8	CN301139091D	2010-02-17
2	集成电路工艺检测设备(Xi-Line 530)	外观专利	CN200930099014.3	CN301139090D	2010-02-17
3	集成电路测量设备(Xi-Line 200型)	外观专利	CN200630195931.8	CN300732351D	2008-01-16

软件著作权1

序号	软件名称	软件简称	版本号	登记号	分类号	首次发表日期	登记批准日期
1	Xi-Sys集成电路尺寸测量及缺陷分析软件	-	1.0.0	2009SR048543	61000-4000	2005-08-15	2009-10-23

作品著作权0

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暂无作品著作权

网站备案0

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