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商标信息1

序号	商标名称	国际分类	注册号	状态	申请日期	操作
1	AVANT SEMI	-	62875934	等待实质审查	2022-02-26	查看

专利信息1

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	一种测量外延片的外延层厚度的方法	发明专利	CN202210340751.2	CN114739300A	2022-07-12

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