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  • 测科空间

    北京测科空间信息技术有限公司

    存续
    • 地址:北京市海淀区北太平路16号办公楼213室
    • 简介:-
    • 商标信息 3
    • 专利信息 9
    • 软件著作权 37
    • 作品著作权 0
    • 网站备案 1

    商标信息3

    序号 商标名称 国际分类 注册号 状态 申请日期 操作
    1 测科宇熵 09类-科学仪器 30801393 商标已注册 2018-05-09 查看
    2 宇熵 09类-科学仪器 30779431 商标已注册 2018-05-09 查看
    3 测科低空 LARSP CK 42类-网站服务 11549362 等待实质审查 2012-09-26 查看

    专利信息9

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 一种用于无人驾驶车辆导航制导的系统 实用新型 CN201821482429.9 CN208998800U 2019-06-18
    2 一种用于工程建筑物形变监测的系统 实用新型 CN201821738534.4 CN208984029U 2019-06-14
    3 一种用于工程建筑物形变监测的方法及系统 发明专利 CN201811250358.4 CN109084698A 2018-12-25
    4 一种用于无人驾驶车辆导航制导的方法及系统 发明专利 CN201811057362.9 CN109059940A 2018-12-21
    5 室内三轴检校场用调整装置 实用新型 CN201420138402.3 CN203881346U 2014-10-15
    6 轻小型激光雷达与三面阵相机互增强的低空航测系统 实用新型 CN201220656802.4 CN203100733U 2013-07-31
    7 航空摄影测量大比例尺测图标志点装置 实用新型 CN200920222714.1 CN201503269U 2010-06-09
    8 航空摄影测量大比例尺测图标志方法 发明专利 CN200910244017.0 CN101726283A 2010-06-09
    9 一种低空航测系统 实用新型 CN200820233683.5 CN201371949Y 2009-12-30

    软件著作权37

    序号 软件名称 软件简称 版本号 登记号 分类号 首次发表日期 登记批准日期
    1 长焦—宽角组合影像配准系统 - V1.0 2020SR0979588 - - 2020-08-25
    2 基于APM的视频影像位移高精度检测平台 - V1.0 2020SR0979384 - - 2020-08-25
    3 基于特征识别的多尺度影像精准检索系统 - V1.0 2020SR0979376 - - 2020-08-25
    4 高精度检校场线性阵列检校空间坐标系统 - V1.0 2020SR0979369 - - 2020-08-25
    5 极短基线影像的相对定向与拼接系统 - V1.0 2020SR0979361 - - 2020-08-25
    6 位移监测值平差处理系统 - V1.0 2020SR0977796 - - 2020-08-25
    7 野外线阵检校场长焦相机畸变差检校系统 - V1.0 2020SR0977786 - - 2020-08-25
    8 视频影像位移监测分析系统 - V1.0 2020SR0977779 - - 2020-08-25
    9 RGB影像纠正的二次投影计算成像系统 - V1.0 2020SR0975928 - - 2020-08-24
    10 宽角正射影像的长焦高分辨率替换的拼接处理系统 - V1.0 2020SR0975905 - - 2020-08-24

    作品著作权0

    暂无信息 暂无作品著作权

    网站备案1

    序号 网站名 网址 备案号 主办单位性质 审核日期
    1 - www.bjckinfo.com 京ICP备18051363号 企业 2018-10-11
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