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    山东阅芯电子科技有限公司

    在业
    • 地址:荣成市崂山南路788号
    • 简介:-
    • 商标信息 10
    • 专利信息 54
    • 软件著作权 61
    • 作品著作权 0
    • 网站备案 3

    商标信息10

    序号 商标名称 国际分类 注册号 状态 申请日期 操作
    1 PRALITA 42类-网站服务 43271967 商标已注册 2019-12-23 查看
    2 PRAVATAR 09类-科学仪器 43255133 商标已注册 2019-12-23 查看
    3 PRTHERMALX 09类-科学仪器 39659858 商标已注册 2019-07-15 查看
    4 PRSMARTLAB 42类-网站服务 38611464 商标已注册 2019-06-02 查看
    5 AVATAR 09类-科学仪器 37480365 商标无效 2019-04-12 查看
    6 LITA 42类-网站服务 37464774 商标无效 2019-04-12 查看
    7 SMAR T-LAB 42类-网站服务 32961566 商标无效 2018-08-17 查看
    8 THERMALX 09类-科学仪器 32861741 驳回复审中 2018-08-13 查看
    9 HTXB 09类-科学仪器 32841632 商标已注册 2018-08-13 查看
    10 阅芯科技 RIME-REL 07类-机械设备 25880055 商标已注册 2017-08-15 查看

    专利信息54

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 气动继电器装置 实用新型 CN202122781337.9 CN216120121U 2022-03-22
    2 半导体功率器件用模块化自动上下料装置 发明专利 CN202111555253.1 CN114162618A 2022-03-11
    3 适用于功率循环试验的多参数配置方法 发明专利 CN202111509661.3 CN114117152A 2022-03-01
    4 适用于压接式功率半导体器件的测试装置 发明专利 CN202111415479.1 CN114035017A 2022-02-11
    5 秒级功率循环试验中试验条件的搜索确定方法 发明专利 CN202111383793.6 CN113820582B 2022-02-08
    6 秒级功率循环试验中试验条件的搜索确定方法 发明专利 CN202111383793.6 CN113820582A 2021-12-21
    7 半导体功率器件测试用热能交换调节装置 实用新型 CN202120686835.2 CN214620789U 2021-11-05
    8 信号的高频震荡特征处理方法 发明专利 CN202110622371.3 CN113361389A 2021-09-07
    9 可控制高温环境老化寿命试验箱温度变化过程的方法及系统 发明专利 CN201811604900.1 CN109613414B 2021-06-25
    10 可控制高温环境老化寿命试验箱温度变化过程的方法及系统 发明专利 CN201811604900.1 CN109613414A 2021-06-25

    软件著作权61

    序号 软件名称 软件简称 版本号 登记号 分类号 首次发表日期 登记批准日期
    1 压接式半导体模块热阻测试系统 - V1.0 2022SR0135690 - 2021-11-24 2022-01-20
    2 半导体芯片测试压力控制系统 - V1.0 2022SR0108476 - 2021-11-29 2022-01-17
    3 半导体芯片测试温控系统 - V1.0 2022SR0098984 - 2021-11-26 2022-01-14
    4 半导体芯片阻抗分析系统 - V1.0 2022SR0098983 - 2021-11-24 2022-01-14
    5 MEMS器件在片测试系统 - V1.0 2022SR0098814 - 2021-12-01 2022-01-14
    6 压接式半导体模块功率循环测试系统 - V1.0 2022SR0063960 - 2021-11-22 2022-01-11
    7 半导体器件加速老化测试系统 - V1.0 2022SR0054395 - 2021-11-15 2022-01-10
    8 压接式半导体模块老化测试系统 - V1.0 2022SR0054394 - 2021-11-15 2022-01-10
    9 压接式半导体模块动态参数测试系统 - V1.0 2022SR0054132 - 2021-11-17 2022-01-10
    10 压接式半导体模块静态参数测试系统 - V1.0 2022SR0054131 - 2021-11-18 2022-01-10

    作品著作权0

    暂无信息 暂无作品著作权

    网站备案3

    序号 网站名 网址 备案号 主办单位性质 审核日期
    1 山东阅芯电子科技有限公司 www.prime-rel.com 鲁ICP备19018968号 企业 2019-04-23
    2 山东阅芯电子科技有限公司 www.prime-rel.com 鲁ICP备19018968号 企业 2019-04-23
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