商标信息10
序号 | 商标名称 | 国际分类 | 注册号 | 状态 | 申请日期 | 操作 |
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1 | PRALITA | 42类-网站服务 | 43271967 | 商标已注册 | 2019-12-23 | 查看 |
2 | PRAVATAR | 09类-科学仪器 | 43255133 | 商标已注册 | 2019-12-23 | 查看 |
3 | PRTHERMALX | 09类-科学仪器 | 39659858 | 商标已注册 | 2019-07-15 | 查看 |
4 | PRSMARTLAB | 42类-网站服务 | 38611464 | 商标已注册 | 2019-06-02 | 查看 |
5 | AVATAR | 09类-科学仪器 | 37480365 | 商标无效 | 2019-04-12 | 查看 |
6 | LITA | 42类-网站服务 | 37464774 | 商标无效 | 2019-04-12 | 查看 |
7 | SMAR T-LAB | 42类-网站服务 | 32961566 | 商标无效 | 2018-08-17 | 查看 |
8 | THERMALX | 09类-科学仪器 | 32861741 | 驳回复审中 | 2018-08-13 | 查看 |
9 | HTXB | 09类-科学仪器 | 32841632 | 商标已注册 | 2018-08-13 | 查看 |
10 | 阅芯科技 RIME-REL | 07类-机械设备 | 25880055 | 商标已注册 | 2017-08-15 | 查看 |
专利信息54
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 气动继电器装置 | 实用新型 | CN202122781337.9 | CN216120121U | 2022-03-22 |
2 | 半导体功率器件用模块化自动上下料装置 | 发明专利 | CN202111555253.1 | CN114162618A | 2022-03-11 |
3 | 适用于功率循环试验的多参数配置方法 | 发明专利 | CN202111509661.3 | CN114117152A | 2022-03-01 |
4 | 适用于压接式功率半导体器件的测试装置 | 发明专利 | CN202111415479.1 | CN114035017A | 2022-02-11 |
5 | 秒级功率循环试验中试验条件的搜索确定方法 | 发明专利 | CN202111383793.6 | CN113820582B | 2022-02-08 |
6 | 秒级功率循环试验中试验条件的搜索确定方法 | 发明专利 | CN202111383793.6 | CN113820582A | 2021-12-21 |
7 | 半导体功率器件测试用热能交换调节装置 | 实用新型 | CN202120686835.2 | CN214620789U | 2021-11-05 |
8 | 信号的高频震荡特征处理方法 | 发明专利 | CN202110622371.3 | CN113361389A | 2021-09-07 |
9 | 可控制高温环境老化寿命试验箱温度变化过程的方法及系统 | 发明专利 | CN201811604900.1 | CN109613414B | 2021-06-25 |
10 | 可控制高温环境老化寿命试验箱温度变化过程的方法及系统 | 发明专利 | CN201811604900.1 | CN109613414A | 2021-06-25 |
软件著作权61
序号 | 软件名称 | 软件简称 | 版本号 | 登记号 | 分类号 | 首次发表日期 | 登记批准日期 |
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1 | 压接式半导体模块热阻测试系统 | - | V1.0 | 2022SR0135690 | - | 2021-11-24 | 2022-01-20 |
2 | 半导体芯片测试压力控制系统 | - | V1.0 | 2022SR0108476 | - | 2021-11-29 | 2022-01-17 |
3 | 半导体芯片测试温控系统 | - | V1.0 | 2022SR0098984 | - | 2021-11-26 | 2022-01-14 |
4 | 半导体芯片阻抗分析系统 | - | V1.0 | 2022SR0098983 | - | 2021-11-24 | 2022-01-14 |
5 | MEMS器件在片测试系统 | - | V1.0 | 2022SR0098814 | - | 2021-12-01 | 2022-01-14 |
6 | 压接式半导体模块功率循环测试系统 | - | V1.0 | 2022SR0063960 | - | 2021-11-22 | 2022-01-11 |
7 | 半导体器件加速老化测试系统 | - | V1.0 | 2022SR0054395 | - | 2021-11-15 | 2022-01-10 |
8 | 压接式半导体模块老化测试系统 | - | V1.0 | 2022SR0054394 | - | 2021-11-15 | 2022-01-10 |
9 | 压接式半导体模块动态参数测试系统 | - | V1.0 | 2022SR0054132 | - | 2021-11-17 | 2022-01-10 |
10 | 压接式半导体模块静态参数测试系统 | - | V1.0 | 2022SR0054131 | - | 2021-11-18 | 2022-01-10 |
作品著作权0
网站备案3
序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
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1 | 山东阅芯电子科技有限公司 | www.prime-rel.com | 鲁ICP备19018968号 | 企业 | 2019-04-23 |
2 | 山东阅芯电子科技有限公司 | www.prime-rel.com | 鲁ICP备19018968号 | 企业 | 2019-04-23 |
3 | - | www.prime-rel.com | 鲁ICP备19018968号 | 企业 | 2019-04-23 |
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