商标信息3
专利信息5
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 半导体激光芯片双温度光电特性测试与外观检测一体机 | 实用新型 | CN201921657377.9 | CN211563726U | 2020-09-25 |
2 | 半导体EML激光通讯芯片双温度自动测试机 | 实用新型 | CN201921538034.0 | CN211206557U | 2020-08-07 |
3 | 半导体激光芯片低温调试机 | 实用新型 | CN201921540611.X | CN211195475U | 2020-08-07 |
4 | 半导体激光芯片低温Bar条测试机 | 实用新型 | CN201921540612.4 | CN210513626U | 2020-05-12 |
5 | 腔体滤波器的自动组装调试系统 | 实用新型 | CN201921538127.3 | CN210200933U | 2020-03-27 |
软件著作权6
序号 | 软件名称 | 软件简称 | 版本号 | 登记号 | 分类号 | 首次发表日期 | 登记批准日期 |
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1 | 半导体激光通信芯片测试软件 | - | V1.0 | 2019SR1186829 | 30200-0000 | 2018-12-26 | 2019-11-21 |
2 | 双通道高速采集系统软件 | - | V1.0 | 2019SR1186303 | 30200-0000 | 2019-03-15 | 2019-11-21 |
3 | 电吸收调制激光器的光电特性评价软件 | - | V1.0 | 2019SR1186161 | 30200-0000 | 2019-01-10 | 2019-11-21 |
4 | 高频半导体光谱特性分析软件 | - | V1.0 | 2019SR1186154 | 30200-0000 | 2019-03-28 | 2019-11-21 |
5 | 腔体滤波器智能化调试控制系统 | - | V1.0 | 2019SR1185088 | 30200-0000 | 2018-11-17 | 2019-11-21 |
6 | 半导体激光芯片测试评价系统 | - | V1.0 | 2019SR1181742 | 30200-0000 | 2019-01-20 | 2019-11-21 |
作品著作权0
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