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    上海精密计量测试研究所

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    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 产品质量批次稳定性量化评估判据计算方法 发明专利 CN202110880770.X CN113780724A 2021-12-10
    2 一种双载波复合制导信号模拟方法 发明专利 CN202110880791.1 CN113776389A 2021-12-10
    3 一种裸芯片表面缺陷智能检测系统 实用新型 CN202120121632.9 CN214794502U 2021-11-19
    4 氮化镓微波功率器件结温测定方法 发明专利 CN201910613866.2 CN110333432B 2021-08-31
    5 FPGA内部DSP模块的测试方法 发明专利 CN201811510144.6 CN109596976B 2021-08-27
    6 一种高速数传基带测试设备校准装置及方法 发明专利 CN201910236567.1 CN109962732B 2021-07-27
    7 K系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法 发明专利 CN201811518304.1 CN109655740B 2021-07-27
    8 可视化卷积神经网络的方法 发明专利 CN201710381902.8 CN107392085B 2021-07-02
    9 可视化卷积神经网络的方法 发明专利 CN201710381902.8 CN107392085A 2021-07-02
    10 一种原子钟原子跃迁信号采集系统 实用新型 CN202022578555.8 CN213585747U 2021-06-29

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    1 上海精密计量测试研究所 www.ht808.com 沪ICP备2020025844号 事业单位 2020-08-25
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