商标信息0
专利信息215
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 产品质量批次稳定性量化评估判据计算方法 | 发明专利 | CN202110880770.X | CN113780724A | 2021-12-10 |
2 | 一种双载波复合制导信号模拟方法 | 发明专利 | CN202110880791.1 | CN113776389A | 2021-12-10 |
3 | 一种裸芯片表面缺陷智能检测系统 | 实用新型 | CN202120121632.9 | CN214794502U | 2021-11-19 |
4 | 氮化镓微波功率器件结温测定方法 | 发明专利 | CN201910613866.2 | CN110333432B | 2021-08-31 |
5 | FPGA内部DSP模块的测试方法 | 发明专利 | CN201811510144.6 | CN109596976B | 2021-08-27 |
6 | 一种高速数传基带测试设备校准装置及方法 | 发明专利 | CN201910236567.1 | CN109962732B | 2021-07-27 |
7 | K系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法 | 发明专利 | CN201811518304.1 | CN109655740B | 2021-07-27 |
8 | 可视化卷积神经网络的方法 | 发明专利 | CN201710381902.8 | CN107392085B | 2021-07-02 |
9 | 可视化卷积神经网络的方法 | 发明专利 | CN201710381902.8 | CN107392085A | 2021-07-02 |
10 | 一种原子钟原子跃迁信号采集系统 | 实用新型 | CN202022578555.8 | CN213585747U | 2021-06-29 |
软件著作权0
作品著作权0
网站备案1
序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
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1 | 上海精密计量测试研究所 | www.ht808.com | 沪ICP备2020025844号 | 事业单位 | 2020-08-25 |
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