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序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	全应变测量式原位纳米压/划痕测试装置	发明专利	CN201210413791.1	CN102928308B	2014-07-09
2	显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置	发明专利	CN201110353825.8	CN102494955B	2013-04-24
3	显微组件下跨尺度原位微纳米三点/四点弯曲测试装置	发明专利	CN201110353825.8	CN102494955A	2013-04-24
4	显微组件下跨尺度原位微纳米拉伸/压缩液压驱动测试装置	发明专利	CN201110353413.4	CN102384878B	2013-04-24
5	全应变测量式原位纳米压/划痕测试装置	发明专利	CN201210413791.1	CN102928308A	2013-02-13
6	显微组件下跨尺度原位微纳米拉伸/压缩液压驱动测试装置	发明专利	CN201110353413.4	CN102384878A	2012-03-21
7	PCI总线通用力学性能高精度测量控制系统	实用新型	CN200920094433.2	CN201654521U	2010-11-24

软件著作权1

序号	软件名称	软件简称	版本号	登记号	分类号	首次发表日期	登记批准日期
1	Test Expert.NET 通用试验软件	-	V3.0	2011SR047738	-	2010-12-30	2011-07-14

作品著作权0

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