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序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	多siteATE项目的元器件丝印摆放的调整方法	发明专利	CN202210103621.7	CN114117997A	2022-03-01
2	一种集成电路晶圆老化测试用散热装置	实用新型	CN202121007606.X	CN215910524U	2022-02-25
3	芯片老化测试的监测方法、电子设备和存储介质	发明专利	CN202210051803.4	CN114062907A	2022-02-18
4	射频裸晶片测试系统和测试方法	发明专利	CN202111495073.9	CN113903675B	2022-02-18
5	一种环境试验装置	实用新型	CN202121542913.8	CN215768876U	2022-02-08
6	射频裸晶片测试系统和测试方法	发明专利	CN202111495073.9	CN113903675A	2022-01-07
7	一种多通道扩展机箱	实用新型	CN202121587335.X	CN215418877U	2022-01-04
8	暴露绝缘体上硅器件有源区的方法、应用和失效分析方法	发明专利	CN202111237524.9	CN113675083B	2021-12-21
9	PTC铝合金载具	外观专利	CN202130428882.2	CN306962711S	2021-11-26
10	暴露绝缘体上硅器件有源区的方法、应用和失效分析方法	发明专利	CN202111237524.9	CN113675083A	2021-11-19

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