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序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	芯片测试方法、测试机及存储介质	发明专利	CN202111078131.8	CN113514758B	2022-02-22
2	延时测量电路、AC校准装置及IC测量装置	发明专利	CN202111030951.X	CN113466670B	2022-01-18
3	一种多通道信号汇流电路、校准电路及测试机	发明专利	CN202110980236.6	CN113422596B	2022-01-18
4	芯片测试电路、测试方法及测试装置	发明专利	CN202111115750.X	CN113567841B	2022-01-11
5	信号调整单元、信号调整模块及测试机	发明专利	CN202111048233.5	CN113484737B	2021-12-07
6	一种通道传输延时差异测量系统及方法	发明专利	CN202111035770.6	CN113466673B	2021-11-19
7	测试探针、测试探针模块及测试装置	发明专利	CN202111031094.5	CN113466504B	2021-11-19
8	IC测试机台的校准方法、校准系统及IC测试装置	发明专利	CN202111008287.9	CN113447798B	2021-11-19
9	一种半导体测试机多个测试通道直流参数的校准方法	发明专利	CN202110853883.0	CN113311374B	2021-11-09
10	芯片测试电路、测试方法及测试装置	发明专利	CN202111115750.X	CN113567841A	2021-10-29

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