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商标信息 2
专利信息 43
软件著作权 12
作品著作权 0
网站备案 0

商标信息2

序号	商标	商标名称	国际分类	注册号	状态	申请日期	操作
1	图	图形	09类-科学仪器	13383973	商标已注册	2013-10-17	查看
2	铖	铖昌	09类-科学仪器	13383966	商标已注册	2013-10-17	查看

专利信息43

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	二维点阵式多波束相控阵及其设计方法	发明专利	CN202111285691.0	CN113725717B	2022-03-11
2	毫米波宽带功率校准修正方法及系统、存储介质及终端	发明专利	CN202111156482.6	CN113589211B	2022-01-14
3	二维点阵式多波束相控阵及其设计方法	发明专利	CN202111285691.0	CN113725717A	2021-11-30
4	毫米波宽带功率校准修正方法及系统、存储介质及终端	发明专利	CN202111156482.6	CN113589211A	2021-11-02
5	射频微波探针的S参数提取方法及系统、存储介质及终端	发明专利	CN202110628906.8	CN113076713B	2021-10-15
6	一种低噪放芯片噪声系数自动化在片测试系统	发明专利	CN201910715479.X	CN110470973B	2021-09-14
7	一种基于十六项误差模型的矢量网络分析仪校准方法	发明专利	CN202110467666.8	CN113359078A	2021-09-07
8	一种射频微波大功率器件测试系统及测试方法	发明专利	CN202110287386.9	CN113092976A	2021-07-09
9	射频微波探针的S参数提取方法及系统、存储介质及终端	发明专利	CN202110628906.8	CN113076713A	2021-07-06
10	半导体封装结构及其制备方法	发明专利	CN202110284566.1	CN112687656B	2021-06-11

软件著作权12

序号	软件名称	软件简称	版本号	登记号	分类号	首次发表日期	登记批准日期
1	毫米波脉冲功率放大器芯片自动化在片测试软件	-	V1.0	2019SR1116002	30100-4000	-	2019-11-04
2	低噪声放大器芯片自动化在片测试软件	-	V1.0	2019SR1064433	30100-4000	-	2019-10-21
3	对标数据管理系统	对标系统	1.2.5	2018SR698848	30106-4000	-	2018-08-30
4	微波毫米波芯片可靠性测试数据分析系统	可靠性数据系统	V1.0	2018SR697727	30200-4000	2018-04-24	2018-08-30
5	探针台设备管理系统	探针台管理系统	1.1.0	2018SR688584	30200-4000	-	2018-08-28
6	进销存管理系统	-	1.2.0	2018SR073668	30106-6200	-	2018-01-30
7	芯片生产测试管理系统	生产系统	1.1.26	2018SR020888	30106-4000	-	2018-01-09
8	MMIC一体化自动测试软件	MMIC自动测试软件	2.0	2018SR020854	30208-4000	-	2018-01-09
9	芯片数据查询分析系统	芯片查询系统	-	2017SR555764	30200-4000	-	2017-09-29
10	铖昌SPI控制芯片自动化测试系统软件	铖昌SPI芯片测试系统软件	V1.0	2014SR124301	30200-4000	2014-04-15	2014-08-20

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