商标信息2
专利信息10
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 射频电路产品老化测试装置 | 实用新型 | CN202020875160.1 | CN212301764U | 2021-01-05 |
2 | 非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置 | 实用新型 | CN202020884584.4 | CN212032656U | 2020-11-27 |
3 | 一种用于老化测试的多路可实时监控电源系统及测试方法 | 发明专利 | CN202010861523.0 | CN111948520A | 2020-11-17 |
4 | 非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置及方法 | 发明专利 | CN202010441653.9 | CN111489786A | 2020-08-04 |
5 | 射频电路产品老化测试装置及方法 | 发明专利 | CN202010440940.8 | CN111487525A | 2020-08-04 |
6 | 一种基于子母板的集成电路芯片老化测试装置 | 实用新型 | CN201720220510.9 | CN206546416U | 2017-10-10 |
7 | 一种半自动BGA植球设备 | 实用新型 | CN201621215568.6 | CN206271664U | 2017-06-20 |
8 | 一种基于子母板的集成电路芯片老化测试装置及测试方法 | 发明专利 | CN201710135630.3 | CN106771987A | 2017-05-31 |
9 | 一种RF芯片带射频信号老化装置 | 实用新型 | CN201621215571.8 | CN206178064U | 2017-05-17 |
10 | 一种多路射频信号功放模块 | 实用新型 | CN201621215455.6 | CN206164526U | 2017-05-10 |
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