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官网： www.zc-hightech.com

地址：安徽省合肥市高新区望江西路800号动漫基地C4楼2层208室

知识产权172

商标信息 3
专利信息 158
软件著作权 10
作品著作权 0
网站备案 1

商标信息3

序号	商标名称	国际分类	注册号	状态	申请日期	操作
1	图形	09类-科学仪器	63308607	等待实质审查	2022-03-16	查看
2	图形	09类-科学仪器	63301093	等待实质审查	2022-03-16	查看
3	知常光电	09类-科学仪器	63293615	等待实质审查	2022-03-16	查看

专利信息158

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	光学元件亚表面缺陷的多通道原位检测装置及检测方法	发明专利	CN201911259313.8	CN111060516B	2022-03-08
2	一种变角度光路自动调节装置	实用新型	CN202121643059.4	CN215895082U	2022-02-22
3	一种光学元件高透射率高反射率测量装置	实用新型	CN202121645823.1	CN215893966U	2022-02-22
4	一种双光束相位差调制装置	实用新型	CN202121645822.7	CN215893961U	2022-02-22
5	一种大口径元件夹具	实用新型	CN202121645825.0	CN215881347U	2022-02-22
6	一种双光束相位差调制方法及调制装置	发明专利	CN202110815071.7	CN113624449A	2021-11-09
7	一种光学元件高透射率高反射率测量装置及测量方法	发明专利	CN202110815095.2	CN113483996A	2021-10-08
8	一种大口径元件夹具	发明专利	CN202110813934.7	CN113459003A	2021-10-01
9	一种入射光线角度连续可调装置	实用新型	CN202021925465.5	CN212483957U	2021-02-05
10	一种热红外成像模组温度控制装置	实用新型	CN202021706269.9	CN212482714U	2021-02-05

共 16 页

软件著作权10

序号	软件名称	软件简称	版本号	登记号	分类号	首次发表日期	登记批准日期
1	膜片自动清洗及检测设备系统	-	V1.0	2021SR1849896	-	-	2021-11-23
2	光学元件表面缺陷检测系统	-	V1.0	2021SR1849889	-	-	2021-11-23
3	光学元件多模态缺陷检测系统	-	V1.0	2021SR1805830	-	2021-09-30	2021-11-19
4	大口径化学膜元件剩余反射率均匀性测量系统	-	V1.0	2021SR0039081	-	-	2021-02-02
5	大口径光学薄膜剩余反射率检测系统	-	V1.0	2020SR1270238	-	-	2020-12-25
6	Automatic infrared imaging temperature measurement and analysis system	自动红外成像测温分析系统	V1.0	2020SR1139941	-	-	2020-09-22
7	大口径表面疵病检测系统	LargerDefectScatter	V1.0	2020SR1139934	-	-	2020-09-22
8	亚表面损伤共聚焦成像检测系统	-	V1.0	2020SR1139927	-	-	2020-09-22
9	激光散射缺陷检测系统	-	V1.0	2019SR0731933	30208-0000	-	2019-07-16
10	大口径熔石英弱吸收缺陷测试系统	-	V1.0	2019SR0730972	30208-0000	-	2019-07-16

作品著作权0

暂无信息

暂无作品著作权

网站备案1

序号	网站名	网址	备案号	主办单位性质	审核日期
1	-	www.zc-hightech.com	皖ICP备17021618号	企业	2020-07-09

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