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商标信息 15
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商标信息15

序号	商标名称	国际分类	注册号	状态	申请日期	操作
1	ZAS	-	59775144	等待实质审查	2021-10-12	查看
2	中安半导体	-	59775129	初审公告	2021-10-12	查看
3	ZAS	-	59771243	初审公告	2021-10-12	查看
4	图形	-	59769967	商标申请中	2021-10-12	查看
5	中安半导体	-	59767212	等待实质审查	2021-10-12	查看
6	图形	-	59763891	商标申请中	2021-10-12	查看
7	图形	-	59760505	等待实质审查	2021-10-12	查看
8	ZAS	-	59760482	初审公告	2021-10-12	查看
9	ZAS	-	59759244	商标已注册	2021-10-12	查看
10	中安半导体	-	59755691	商标申请中	2021-10-12	查看

专利信息5

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	晶圆测量装置	发明专利	CN202011567672.2	CN113155051A	2021-07-23
2	晶圆平整度的测量方法	发明专利	CN202011567675.6	CN112880597A	2021-06-01
3	晶圆几何参数以及晶圆上掩膜层的厚度的测量方法	发明专利	CN202011569092.7	CN112864075A	2021-05-28
4	晶圆几何参数的测量方法	发明专利	CN202011569046.7	CN112729158A	2021-04-30
5	气浮卡盘	发明专利	CN202011569044.8	CN112635386A	2021-04-09

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