商标信息0
专利信息5
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 一种芯片老练测试的监控系统 | 实用新型 | CN202121042687.7 | CN215575498U | 2022-01-18 |
2 | 一种芯片加工用贴装机 | 发明专利 | CN202011078763.X | CN112203493B | 2021-12-07 |
3 | 一种用于CMOS传感器的测试方法 | 发明专利 | CN201710196074.0 | CN106993184B | 2021-06-22 |
4 | 一种用于CMOS传感器的测试方法 | 发明专利 | CN201710196074.0 | CN106993184A | 2021-06-22 |
5 | 一种芯片加工用贴装机 | 发明专利 | CN202011078763.X | CN112203493A | 2021-01-08 |
软件著作权20
序号 | 软件名称 | 软件简称 | 版本号 | 登记号 | 分类号 | 首次发表日期 | 登记批准日期 |
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1 | XN6142型抗干扰有源天线测试系统 | XN6142 | V1.0 | 2022SR0062909 | - | 2021-01-15 | 2022-01-11 |
2 | XND43711MQI型 9KHz~6GHz低过冲数控衰减器测试系统 | XND43711 | V1.0 | 2022SR0054049 | - | 2021-06-07 | 2022-01-10 |
3 | SB508AMF型8通道模拟开关电路测试系统 | SB508AMF | V1.0 | 2022SR0052192 | - | 2021-08-26 | 2022-01-10 |
4 | SXM556J型大功率开关限幅电路测试系统 | SXM556J | V1.0 | 2022SR0051356 | - | 2021-05-20 | 2022-01-10 |
5 | SX7381硅基时钟测试系统 | SX7381 | V1.0 | 2022SR0043609 | - | 2021-04-16 | 2022-01-07 |
6 | SFM910K/B型锁相环测试系统 | SFM910 | V1.0 | 2020SR1883143 | - | - | 2020-12-23 |
7 | H6H106型上下变频器二合一测试系统 | H106 | V1.0 | 2020SR1882435 | - | - | 2020-12-23 |
8 | SB733型P波段收发信机测试系统 | SB733 | V1.0 | 2020SR1882355 | - | - | 2020-12-23 |
9 | XND2138MEB型Gaas低噪声放大器测试系统 | XND2138 | V1.0 | 2020SR1879981 | - | - | 2020-12-23 |
10 | H18F68型上下变频器测试系统 | H18F68 | V1.0 | 2020SR1879042 | - | - | 2020-12-23 |
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