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  • 芯可鉴

    北京芯可鉴科技有限公司

    存续
    • 官网:-
    • 地址:北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层
    • 简介:-
    • 商标信息 0
    • 专利信息 95
    • 软件著作权 2
    • 作品著作权 0
    • 网站备案 0

    商标信息0

    暂无信息 暂无商标信息

    专利信息95

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 基于脉冲神经网络的图像编码方法及装置 发明专利 CN202210165456.8 CN114222142A 2022-03-22
    2 人工电磁超表面及其制作方法 发明专利 CN202210165206.4 CN114221138A 2022-03-22
    3 一种LDMOSFET、制备方法及芯片和电路 发明专利 CN202210159453.3 CN114220847A 2022-03-22
    4 一种LDMOSFET、制备方法及芯片和电路 发明专利 CN202210159448.2 CN114220846A 2022-03-22
    5 一种NLDMOS器件及制备方法、芯片 发明专利 CN202210014429.0 CN114050181B 2022-03-22
    6 隔离电容及隔离电容的制备方法 发明专利 CN202111436654.5 CN113851466B 2022-03-22
    7 芯片局部涂覆装置 发明专利 CN202111473541.2 CN114203592A 2022-03-18
    8 用于电力二次设备的环境应力试验系统 发明专利 CN202210146277.X CN114200244A 2022-03-18
    9 一种LDMOSFET、制备方法及芯片、电路 发明专利 CN202210132826.8 CN114188402A 2022-03-15
    10 一种LDMOSFET、制备方法及芯片和电路 发明专利 CN202210124399.9 CN114171585A 2022-03-11

    软件著作权2

    序号 软件名称 软件简称 版本号 登记号 分类号 首次发表日期 登记批准日期
    1 北京芯可鉴科技有限公司-SEM电子束控制软件 SEM电子束控制软件 V1.0 2021SR0619227 - - 2021-04-29
    2 北京芯可鉴科技有限公司-基于递归平均滤波的ADC参数测试系统 基于递归平均滤波的ADC参数测试系统 V1.0 2020SR1623514 - - 2020-11-23

    作品著作权0

    暂无信息 暂无作品著作权

    网站备案0

    暂无信息 暂无网站备案
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