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官网： www.sinoictest.com.cn

地址：中国（上海）自由贸易试验区郭守敬路351号2号楼1楼

知识产权231

商标信息 12
专利信息 217
软件著作权 0
作品著作权 0
网站备案 2

商标信息12

序号	商标名称	国际分类	注册号	状态	申请日期	操作
1	芯片测试云;SINOIC CLOUD	09类-科学仪器	54426724	等待实质审查	2021-03-18	查看
2	芯片测试云 SINOIC CLOUD	42类-网站服务	54412601	等待实质审查	2021-03-18	查看
3	图形	09类-科学仪器	50425970	商标已注册	2020-10-14	查看
4	图形	40类-材料加工	50412717	商标已注册	2020-10-14	查看
5	图形	42类-网站服务	50406366	商标已注册	2020-10-14	查看
6	华岭股份 SINOIC	42类-网站服务	20391268	商标已注册	2016-06-22	查看
7	华岭股份 SINOIC	40类-材料加工	20391130	商标已注册	2016-06-22	查看
8	华岭股份 SINOIC	09类-科学仪器	20391005	商标已注册	2016-06-22	查看
9	H SINOIC	42类-网站服务	9170688	商标无效	2011-03-03	查看
10	华岭科技 SINOIC	42类-网站服务	7380885	商标已注册	2009-05-08	查看

专利信息217

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	低压线性稳压器压降电压的测试方法	发明专利	CN202110587357.4	CN113325226A	2021-08-31
2	集成电路光学芯片光圈测试方法	发明专利	CN201910251137.7	CN110031188B	2021-08-27
3	集成电路光学芯片光圈测试方法	发明专利	CN201910251137.7	CN110031188A	2021-08-27
4	适用于检测装载晶圆料盒的调节装置	发明专利	CN201811043998.8	CN109273384B	2021-08-06
5	一种三维系统集成电路晶圆测试探针台数据结构保存方法	发明专利	CN201710415219.1	CN108984575B	2021-08-06
6	一种提高测试效率的ATE测试方法	发明专利	CN201811607629.7	CN109884498B	2021-07-13
7	一种提高测试效率的ATE测试模式	发明专利	CN201811607629.7	CN109884498A	2021-07-13
8	多工位探针卡及晶圆测试的方法	发明专利	CN202110042147.7	CN112881886A	2021-06-01
9	一种增加测试机向量深度的方法	发明专利	CN202110011857.3	CN112802538A	2021-05-14
10	一种提高在测试探针台上对探针保护效率的方法及装置	发明专利	CN201811472063.1	CN109848798B	2021-05-11

共 22 页

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作品著作权0

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暂无作品著作权

网站备案2

序号	网站名	网址	备案号	主办单位性质	审核日期
1	上海华岭集成电路技术股份有限公司	www.sinoictest.com.cn	沪ICP备13005822号	企业	2021-04-19
2	上海华岭集成电路技术股份有限公司	www.sinoictest.com	沪ICP备13005822号	企业	2019-09-23

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