商标信息0
专利信息6
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 一种改善EMI及降低特征电阻的超结器件 | 实用新型 | CN202120092933.3 | CN214226914U | 2021-09-17 |
2 | 一种集成SBR的低损耗高压超结器件及其制备方法 | 发明专利 | CN202110589057.X | CN113314592A | 2021-08-27 |
3 | 一种具有超高隔离电压的智能型超结MOS及其制造方法 | 发明专利 | CN202110532789.5 | CN113241371A | 2021-08-10 |
4 | 一种具有电荷平衡结构的沟槽MOSFET及其制作方法 | 发明专利 | CN202110115394.5 | CN112909075A | 2021-06-04 |
5 | 一种改善EMI及降低特征电阻的超结器件及其制造方法 | 发明专利 | CN202110046715.0 | CN112786684A | 2021-05-11 |
6 | 一种沟槽终端结构及其制备方法 | 发明专利 | CN202110023025.3 | CN112768506A | 2021-05-07 |
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