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  • 睿励

    睿励科学仪器(上海)有限公司

    存续
    • 地址:中国(上海)自由贸易试验区华佗路68号6幢
    • 简介:-
    • 商标信息 8
    • 专利信息 166
    • 软件著作权 0
    • 作品著作权 1
    • 网站备案 4

    商标信息8

    序号 商标名称 国际分类 注册号 状态 申请日期 操作
    1 睿励 42类-网站服务 9578968 商标已注册 2011-06-10 查看
    2 睿励 37类-建筑修理 9578947 商标已注册 2011-06-10 查看
    3 睿励 07类-机械设备 9556185 商标已注册 2011-06-03 查看
    4 睿励 09类-科学仪器 9556118 商标已注册 2011-06-03 查看
    5 RSIC 07类-机械设备 5714971 商标已注册 2006-11-10 查看
    6 RSIC 42类-网站服务 5714970 商标已注册 2006-11-10 查看
    7 RSIC 09类-科学仪器 5714889 商标已注册 2006-11-10 查看
    8 RSIC 37类-建筑修理 5714888 商标已注册 2006-11-10 查看

    专利信息166

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 一种用于晶圆应力测试的机械传动系统 实用新型 CN202120255910.X CN214313132U 2021-09-28
    2 一种用于膜厚测量光机的高精度支撑装置及系统 实用新型 CN202120341854.1 CN214308622U 2021-09-28
    3 用于确定半导体器件中的目标结构的形貌参数的方法和设备 发明专利 CN201710442518.4 CN109084721B 2021-09-21
    4 光学薄膜测量设备 外观专利 CN202030827703.8 CN306776138S 2021-08-24
    5 一种用于比对光谱的方法和装置 发明专利 CN202110377775.0 CN113295090A 2021-08-24
    6 用于扫描显微成像系统的动态准直方法 发明专利 CN201810863919.1 CN110794560B 2021-07-06
    7 用于扫描显微成像系统的动态准直方法 发明专利 CN201810863919.1 CN110794560A 2021-07-06
    8 用于测量半导体器件的光学关键尺寸的方法和设备 发明专利 CN201810911882.5 CN110823089B 2021-06-04
    9 用于测量半导体器件的光学关键尺寸的方法和设备 发明专利 CN201810911882.5 CN110823089A 2021-06-04
    10 用于确定集成电路器件的尺寸的方法和设备 发明专利 CN201710461390.6 CN109148433B 2021-06-04

    软件著作权0

    暂无信息 暂无软件著作权

    作品著作权1

    序号 作品名 作品类别 登记号 创作完成日期 首次发表日期 登记批准日期
    1 薄膜测量系统TFX3000使用手册(TFX3000 User’s Guide) - 国作登字-2014-L-00120612 - 2013 2014

    网站备案4

    序号 网站名 网址 备案号 主办单位性质 审核日期
    1 睿励科学仪器(上海)有限公司 www.rsicsh.com 沪ICP备16009897号 企业 2020-12-09
    2 睿励科学仪器(上海)有限公司 www.rsicsh.com 沪ICP备16009897号 企业 2020-12-09
    3 睿励科学仪器(上海)有限公司 www.rsicsh.com 沪ICP备16009897号 企业 2020-12-09
    4 睿励科学仪器(上海)有限公司 www.rsicsh.com 沪ICP备16009897号 企业 2020-12-09
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