商标信息8
序号 | 商标名称 | 国际分类 | 注册号 | 状态 | 申请日期 | 操作 |
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1 | 睿励 | 42类-网站服务 | 9578968 | 商标已注册 | 2011-06-10 | 查看 |
2 | 睿励 | 37类-建筑修理 | 9578947 | 商标已注册 | 2011-06-10 | 查看 |
3 | 睿励 | 07类-机械设备 | 9556185 | 商标已注册 | 2011-06-03 | 查看 |
4 | 睿励 | 09类-科学仪器 | 9556118 | 商标已注册 | 2011-06-03 | 查看 |
5 | RSIC | 07类-机械设备 | 5714971 | 商标已注册 | 2006-11-10 | 查看 |
6 | RSIC | 42类-网站服务 | 5714970 | 商标已注册 | 2006-11-10 | 查看 |
7 | RSIC | 09类-科学仪器 | 5714889 | 商标已注册 | 2006-11-10 | 查看 |
8 | RSIC | 37类-建筑修理 | 5714888 | 商标已注册 | 2006-11-10 | 查看 |
专利信息166
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 一种用于晶圆应力测试的机械传动系统 | 实用新型 | CN202120255910.X | CN214313132U | 2021-09-28 |
2 | 一种用于膜厚测量光机的高精度支撑装置及系统 | 实用新型 | CN202120341854.1 | CN214308622U | 2021-09-28 |
3 | 用于确定半导体器件中的目标结构的形貌参数的方法和设备 | 发明专利 | CN201710442518.4 | CN109084721B | 2021-09-21 |
4 | 光学薄膜测量设备 | 外观专利 | CN202030827703.8 | CN306776138S | 2021-08-24 |
5 | 一种用于比对光谱的方法和装置 | 发明专利 | CN202110377775.0 | CN113295090A | 2021-08-24 |
6 | 用于扫描显微成像系统的动态准直方法 | 发明专利 | CN201810863919.1 | CN110794560B | 2021-07-06 |
7 | 用于扫描显微成像系统的动态准直方法 | 发明专利 | CN201810863919.1 | CN110794560A | 2021-07-06 |
8 | 用于测量半导体器件的光学关键尺寸的方法和设备 | 发明专利 | CN201810911882.5 | CN110823089B | 2021-06-04 |
9 | 用于测量半导体器件的光学关键尺寸的方法和设备 | 发明专利 | CN201810911882.5 | CN110823089A | 2021-06-04 |
10 | 用于确定集成电路器件的尺寸的方法和设备 | 发明专利 | CN201710461390.6 | CN109148433B | 2021-06-04 |
软件著作权0
作品著作权1
序号 | 作品名 | 作品类别 | 登记号 | 创作完成日期 | 首次发表日期 | 登记批准日期 |
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1 | 薄膜测量系统TFX3000使用手册(TFX3000 User’s Guide) | - | 国作登字-2014-L-00120612 | - | 2013 | 2014 |
网站备案4
序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
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1 | 睿励科学仪器(上海)有限公司 | www.rsicsh.com | 沪ICP备16009897号 | 企业 | 2020-12-09 |
2 | 睿励科学仪器(上海)有限公司 | www.rsicsh.com | 沪ICP备16009897号 | 企业 | 2020-12-09 |
3 | 睿励科学仪器(上海)有限公司 | www.rsicsh.com | 沪ICP备16009897号 | 企业 | 2020-12-09 |
4 | 睿励科学仪器(上海)有限公司 | www.rsicsh.com | 沪ICP备16009897号 | 企业 | 2020-12-09 |
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