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  • 伟测

    上海伟测半导体科技股份有限公司

    存续
    • 官网:-
    • 地址:上海市浦东新区东胜路38号A区2栋2F
    • 简介:-
    • 商标信息 3
    • 专利信息 31
    • 软件著作权 5
    • 作品著作权 0
    • 网站备案 5

    商标信息3

    序号 商标名称 国际分类 注册号 状态 申请日期 操作
    1 VT EST 42类-网站服务 20878315 商标已注册 2016-08-04 查看
    2 伟测 42类-网站服务 20878303 商标已注册 2016-08-04 查看
    3 VTEST 42类-网站服务 20878280 商标已注册 2016-08-04 查看

    专利信息31

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 一种悬臂式探针寿命测算方法 发明专利 CN202110234623.5 CN113077833A 2021-07-06
    2 一种93K测试机与待测产品的匹配性检测系统及其检测方法 发明专利 CN202110234625.4 CN113075521A 2021-07-06
    3 腐蚀粉在整形铂金探针的应用和铂金探针的整形方法 发明专利 CN202110234659.3 CN113073376A 2021-07-06
    4 一种超薄晶圆的检测方法和类普通晶圆 发明专利 CN202110234639.6 CN113066733A 2021-07-02
    5 一种晶圆MAP图的转换系统和转换方法 发明专利 CN202110234648.5 CN113011139A 2021-06-22
    6 晶圆区域性问题的分析系统及方法 发明专利 CN202110310750.9 CN112710942B 2021-06-08
    7 晶圆区域性问题的分析系统及方法 发明专利 CN202110310750.9 CN112710942A 2021-06-08
    8 多晶硅工艺保险丝的熔断装置及方法 发明专利 CN202110248636.8 CN112630628B 2021-05-18
    9 多晶硅工艺保险丝的熔断装置及方法 发明专利 CN202110248636.8 CN112630628A 2021-04-09
    10 一种WaferID烧写防呆的系统 发明专利 CN202011523844.6 CN112256291B 2021-03-26

    软件著作权5

    序号 软件名称 软件简称 版本号 登记号 分类号 首次发表日期 登记批准日期
    1 伟测测试机TSK探针台的 Map 图转换方法软件 TSK探针台的 Map 图转换 V1.0 2022SR0460745 - - 2022-04-13
    2 伟测测试机STDF文件到TSK探针台的Map图转换软件 STDF文件到TSK探针台的Map图转换 V1.0 2022SR0460719 - - 2022-04-13
    3 伟测半导体芯片测试过程断电防护管理软件 - V1.0 2022SR0454479 - - 2022-04-12
    4 伟测半导体芯片测试参数信息管理软件 - V1.0 2022SR0451163 - - 2022-04-11
    5 伟测自动测试报告系统 自动测报系统 V1.0 2017SR457566 30200-0000 2017-06-05 2017-08-18

    作品著作权0

    暂无信息 暂无作品著作权

    网站备案5

    序号 网站名 网址 备案号 主办单位性质 审核日期
    1 上海伟测半导体科技股份有限公司 www.v-test.com.cn 沪ICP备16034671号 企业 2021-08-12
    2 上海伟测半导体科技股份有限公司 www.v-test.com.cn 沪ICP备16034671号 企业 2021-08-12
    3 - www.v-test.com.cn 沪ICP备16034671号 企业 2021-08-12
    4 上海伟测半导体科技有限公司 www.v-test.com.cn 沪ICP备16034671号 企业 2016-08-30
    5 上海伟测半导体科技有限公司 www.v-test.com.cn 沪ICP备16034671号 企业 2016-08-30
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