商标信息3
专利信息31
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 一种悬臂式探针寿命测算方法 | 发明专利 | CN202110234623.5 | CN113077833A | 2021-07-06 |
2 | 一种93K测试机与待测产品的匹配性检测系统及其检测方法 | 发明专利 | CN202110234625.4 | CN113075521A | 2021-07-06 |
3 | 腐蚀粉在整形铂金探针的应用和铂金探针的整形方法 | 发明专利 | CN202110234659.3 | CN113073376A | 2021-07-06 |
4 | 一种超薄晶圆的检测方法和类普通晶圆 | 发明专利 | CN202110234639.6 | CN113066733A | 2021-07-02 |
5 | 一种晶圆MAP图的转换系统和转换方法 | 发明专利 | CN202110234648.5 | CN113011139A | 2021-06-22 |
6 | 晶圆区域性问题的分析系统及方法 | 发明专利 | CN202110310750.9 | CN112710942B | 2021-06-08 |
7 | 晶圆区域性问题的分析系统及方法 | 发明专利 | CN202110310750.9 | CN112710942A | 2021-06-08 |
8 | 多晶硅工艺保险丝的熔断装置及方法 | 发明专利 | CN202110248636.8 | CN112630628B | 2021-05-18 |
9 | 多晶硅工艺保险丝的熔断装置及方法 | 发明专利 | CN202110248636.8 | CN112630628A | 2021-04-09 |
10 | 一种WaferID烧写防呆的系统 | 发明专利 | CN202011523844.6 | CN112256291B | 2021-03-26 |
软件著作权5
序号 | 软件名称 | 软件简称 | 版本号 | 登记号 | 分类号 | 首次发表日期 | 登记批准日期 |
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1 | 伟测测试机TSK探针台的 Map 图转换方法软件 | TSK探针台的 Map 图转换 | V1.0 | 2022SR0460745 | - | - | 2022-04-13 |
2 | 伟测测试机STDF文件到TSK探针台的Map图转换软件 | STDF文件到TSK探针台的Map图转换 | V1.0 | 2022SR0460719 | - | - | 2022-04-13 |
3 | 伟测半导体芯片测试过程断电防护管理软件 | - | V1.0 | 2022SR0454479 | - | - | 2022-04-12 |
4 | 伟测半导体芯片测试参数信息管理软件 | - | V1.0 | 2022SR0451163 | - | - | 2022-04-11 |
5 | 伟测自动测试报告系统 | 自动测报系统 | V1.0 | 2017SR457566 | 30200-0000 | 2017-06-05 | 2017-08-18 |
作品著作权0
网站备案5
序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
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1 | 上海伟测半导体科技股份有限公司 | www.v-test.com.cn | 沪ICP备16034671号 | 企业 | 2021-08-12 |
2 | 上海伟测半导体科技股份有限公司 | www.v-test.com.cn | 沪ICP备16034671号 | 企业 | 2021-08-12 |
3 | - | www.v-test.com.cn | 沪ICP备16034671号 | 企业 | 2021-08-12 |
4 | 上海伟测半导体科技有限公司 | www.v-test.com.cn | 沪ICP备16034671号 | 企业 | 2016-08-30 |
5 | 上海伟测半导体科技有限公司 | www.v-test.com.cn | 沪ICP备16034671号 | 企业 | 2016-08-30 |
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