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专利信息89

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	半导体芯片检测图像成像方法	发明专利	CN202210040038.6	CN114071133A	2022-02-18
2	用于抓取液晶面板的吸板装置	实用新型	CN202121500002.9	CN215181285U	2021-12-14
3	一种球面元件介质折射率的测量装置及测量方法	发明专利	CN202111072337.X	CN113514426B	2021-12-14
4	一种平面等厚介质折射率的校准装置及校准方法	发明专利	CN202111071946.3	CN113514425B	2021-12-14
5	一种平面等厚介质折射率的测量装置及测量方法	发明专利	CN202111071911.X	CN113514424B	2021-12-14
6	多层结构屏幕的异物缺陷区分方法、电子设备及存储介质	发明专利	CN202111047559.6	CN113484333B	2021-12-14
7	软包电池卷芯检测入壳方法	发明专利	CN202110946039.2	CN113393463B	2021-12-14
8	电芯顶侧封封装质量检测方法、电子设备及存储介质	发明专利	CN202110943078.7	CN113390351B	2021-12-14
9	镜头调节装置	实用新型	CN202120832006.0	CN214704141U	2021-11-12
10	灰度图像的自适应阈值分割方法	发明专利	CN202110669680.6	CN113129326B	2021-11-12

共 9 页

软件著作权3

序号	软件名称	软件简称	版本号	登记号	分类号	首次发表日期	登记批准日期
1	LED外观检测系统	-	V1.0	2021SR0813153	-	-	2021-06-01
2	半导体芯片外观检测系统	-	V1.0	2021SR0461455	-	-	2021-03-29
3	MINI&MICRO排片检测软件	-	V1.0	2021SR0458214	-	-	2021-03-26

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