商标信息8
序号 | 商标名称 | 国际分类 | 注册号 | 状态 | 申请日期 | 操作 |
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1 | 大衍半导体;DAYAN | 09类-科学仪器 | 44805679 | 商标已注册 | 2020-03-20 | 查看 |
2 | 图形 | 09类-科学仪器 | 44805355 | 商标已注册 | 2020-03-20 | 查看 |
3 | 图形 | 42类-网站服务 | 44785698 | 等待实质审查 | 2020-03-20 | 查看 |
4 | 大衍半导体;DACYAN | 42类-网站服务 | 44776379 | 等待实质审查 | 2020-03-20 | 查看 |
5 | 大衍半导体;DACYAN | 38类-通讯服务 | 44776355 | 商标无效 | 2020-03-20 | 查看 |
6 | 图形 | 35类-广告销售 | 44776312 | 等待实质审查 | 2020-03-20 | 查看 |
7 | 大衍半导体;DACYAN | 35类-广告销售 | 44767090 | 等待实质审查 | 2020-03-20 | 查看 |
8 | 图形 | 38类-通讯服务 | 44756775 | 商标已注册 | 2020-03-20 | 查看 |
专利信息12
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 一种提高键合ASM机台产能的安装配合结构 | 实用新型 | CN202122202001.2 | CN216120219U | 2022-03-22 |
2 | 带有防呆装置的条带打印机 | 实用新型 | CN202122202036.6 | CN216069282U | 2022-03-18 |
3 | 带有尺寸可调机构的半导体封装用料盒进料架 | 实用新型 | CN202122191174.9 | CN215753909U | 2022-02-08 |
4 | 一种提升效率的芯片封装塑封工艺 | 发明专利 | CN202111061436.8 | CN113948403A | 2022-01-18 |
5 | 一种降低芯片Wire-Bond裂率的工艺 | 发明专利 | CN202111082067.0 | CN113808955A | 2021-12-17 |
6 | 一种提升生产效率的芯片测试工艺 | 发明专利 | CN202111061480.9 | CN113655374A | 2021-11-16 |
7 | 半导体封装用前道料盒 | 实用新型 | CN202021408462.4 | CN214296950U | 2021-09-28 |
8 | 半导体封装用引脚对称型多排引线框架 | 实用新型 | CN202021398886.7 | CN213026113U | 2021-04-20 |
9 | 带有防呆结构的料盒进料架 | 实用新型 | CN202021408424.9 | CN212659522U | 2021-03-05 |
10 | 半导体封装测试工序用防反入料震碗 | 发明专利 | CN202010735414.4 | CN111891711A | 2020-11-06 |
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