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  • 广立

    杭州广立微电子股份有限公司

    存续
    • 地址:浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座
    • 简介:-
    • 商标信息 42
    • 专利信息 122
    • 软件著作权 36
    • 作品著作权 0
    • 网站备案 9

    商标信息42

    序号 商标 商标名称 国际分类 注册号 状态 申请日期 操作
    1
    图形 42类-网站服务 63209887 商标申请中 2022-03-11 查看
    2
    - 09类-科学仪器 63194489 等待实质审查 2022-03-11 查看
    3
    C
    CMP EXPLORER 42类-网站服务 63039239 商标申请中 2022-03-04 查看
    4
    C
    CMP EXPLORER 09类-科学仪器 63023922 等待实质审查 2022-03-04 查看
    5
    广
    广立微 37类-建筑修理 62239821 等待实质审查 2022-01-18 查看
    6
    广
    广立微 35类-广告销售 62231022 等待实质审查 2022-01-18 查看
    7
    广
    广立微 09类-科学仪器 62222766 等待实质审查 2022-01-18 查看
    8
    广
    广立微 38类-通讯服务 62219094 等待实质审查 2022-01-18 查看
    9
    广
    广立微 41类-教育娱乐 62219072 等待实质审查 2022-01-18 查看
    10
    广
    广立微 42类-网站服务 62218992 等待实质审查 2022-01-18 查看

    专利信息122

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 图表展示方法及图表标签展示系统 发明专利 CN202210110441.1 CN114138893A 2022-03-04
    2 测试头 外观专利 CN202130497059.7 CN307124553S 2022-02-22
    3 一种晶体管网格状绕线的方法 发明专利 CN202111342691.X CN114068522A 2022-02-18
    4 一种可重构的全数字温度传感器及测温方法 发明专利 CN201811601319.4 CN111366259B 2022-02-18
    5 一种用于监控连接线阻值变化因素的测试结构 实用新型 CN202120261684.6 CN215644392U 2022-01-25
    6 一种晶圆测试参数的相关性判断方法及系统 发明专利 CN202111109950.4 CN113933672A 2022-01-14
    7 一种套刻误差的测量计算方法 发明专利 CN202111191680.6 CN113917802A 2022-01-11
    8 一种宽电压范围高速多级放电电路、测试系统和放电方法 发明专利 CN202111128782.3 CN113793815A 2021-12-14
    9 可寻址测试芯片用开关电路及高密度可寻址测试芯片 发明专利 CN202111128760.7 CN113791334A 2021-12-14
    10 一种标定测量模块相对电压偏置误差的方法 发明专利 CN202111055621.6 CN113777471A 2021-12-10

    软件著作权36

    序号 软件名称 软件简称 版本号 登记号 分类号 首次发表日期 登记批准日期
    1 广立WAT测试设备控制软件 Semitronix Tester V1.0 2022SR0367639 - 2022-01-18 2022-03-21
    2 广立微半导体产线数据分析与管理系统 DE-FAB V1.0 2022SR0223219 - 2020-10-20 2022-02-14
    3 广立微半导体良率数据分析与管理系统 DE-PRD V1.0 2022SR0223143 - 2020-10-20 2022-02-14
    4 广立微半导体良率分析与管理系统 DE-YMS V1.0 2021SR1514852 - - 2021-10-15
    5 广立微电学参数测试数据分析系统 DE-TMA V1.0 2021SR1157563 - - 2021-08-05
    6 广立微半导体射频数据分析系统 DERFA V1.0 2021SR0991936 - - 2021-07-06
    7 广立微半导体通用数据分析软件 DEG V1.0 2021SR0960163 - - 2021-06-28
    8 广立微可寻址测试芯片自动化设计软件 ATCompiler V1.0 2021SR0307788 - 2020-10-20 2021-02-26
    9 广立微半导体数据分析软件 DataExp V1.0 2021SR0307775 - 2020-10-26 2021-02-26
    10 广立微基于产品版图的测试芯片专用软件 ICSpider V1.0 2021SR0307774 - 2020-09-30 2021-02-26

    作品著作权0

    暂无信息 暂无作品著作权

    网站备案9

    序号 网站名 网址 备案号 主办单位性质 审核日期
    1 杭州广立微电子股份有限公司 www.semitronix.com.cn 浙ICP备2021003814号 企业 2021-02-10
    2 杭州广立微电子股份有限公司 www.semitronix.cn 浙ICP备2021003814号 企业 2021-02-10
    3 杭州广立微电子股份有限公司 www.semitronix.com.cn 浙ICP备2021003814号 企业 2021-02-10
    4 杭州广立微电子股份有限公司 www.semitronix.cn 浙ICP备2021003814号 企业 2021-02-10
    5 - www.semitronix.com.cn 浙ICP备2021003814号 企业 2021-02-10
    6 - www.semitronix.cn 浙ICP备2021003814号 企业 2021-02-10
    7 杭州广立微电子股份有限公司 www.semitronix.com 浙ICP备2021003814号 企业 2021-02-04
    8 杭州广立微电子股份有限公司 www.semitronix.com 浙ICP备2021003814号 企业 2021-02-04
    9 - www.semitronix.com 浙ICP备2021003814号 企业 2021-02-04
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