商标信息42
序号 | 商标 | 商标名称 | 国际分类 | 注册号 | 状态 | 申请日期 | 操作 |
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图形 | 42类-网站服务 | 63209887 | 商标申请中 | 2022-03-11 | 查看 |
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- | 09类-科学仪器 | 63194489 | 等待实质审查 | 2022-03-11 | 查看 |
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CMP EXPLORER | 42类-网站服务 | 63039239 | 商标申请中 | 2022-03-04 | 查看 |
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CMP EXPLORER | 09类-科学仪器 | 63023922 | 等待实质审查 | 2022-03-04 | 查看 |
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广立微 | 37类-建筑修理 | 62239821 | 等待实质审查 | 2022-01-18 | 查看 |
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广立微 | 35类-广告销售 | 62231022 | 等待实质审查 | 2022-01-18 | 查看 |
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广立微 | 09类-科学仪器 | 62222766 | 等待实质审查 | 2022-01-18 | 查看 |
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广立微 | 38类-通讯服务 | 62219094 | 等待实质审查 | 2022-01-18 | 查看 |
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广立微 | 41类-教育娱乐 | 62219072 | 等待实质审查 | 2022-01-18 | 查看 |
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广立微 | 42类-网站服务 | 62218992 | 等待实质审查 | 2022-01-18 | 查看 |
专利信息122
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 图表展示方法及图表标签展示系统 | 发明专利 | CN202210110441.1 | CN114138893A | 2022-03-04 |
2 | 测试头 | 外观专利 | CN202130497059.7 | CN307124553S | 2022-02-22 |
3 | 一种晶体管网格状绕线的方法 | 发明专利 | CN202111342691.X | CN114068522A | 2022-02-18 |
4 | 一种可重构的全数字温度传感器及测温方法 | 发明专利 | CN201811601319.4 | CN111366259B | 2022-02-18 |
5 | 一种用于监控连接线阻值变化因素的测试结构 | 实用新型 | CN202120261684.6 | CN215644392U | 2022-01-25 |
6 | 一种晶圆测试参数的相关性判断方法及系统 | 发明专利 | CN202111109950.4 | CN113933672A | 2022-01-14 |
7 | 一种套刻误差的测量计算方法 | 发明专利 | CN202111191680.6 | CN113917802A | 2022-01-11 |
8 | 一种宽电压范围高速多级放电电路、测试系统和放电方法 | 发明专利 | CN202111128782.3 | CN113793815A | 2021-12-14 |
9 | 可寻址测试芯片用开关电路及高密度可寻址测试芯片 | 发明专利 | CN202111128760.7 | CN113791334A | 2021-12-14 |
10 | 一种标定测量模块相对电压偏置误差的方法 | 发明专利 | CN202111055621.6 | CN113777471A | 2021-12-10 |
软件著作权36
序号 | 软件名称 | 软件简称 | 版本号 | 登记号 | 分类号 | 首次发表日期 | 登记批准日期 |
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1 | 广立WAT测试设备控制软件 | Semitronix Tester | V1.0 | 2022SR0367639 | - | 2022-01-18 | 2022-03-21 |
2 | 广立微半导体产线数据分析与管理系统 | DE-FAB | V1.0 | 2022SR0223219 | - | 2020-10-20 | 2022-02-14 |
3 | 广立微半导体良率数据分析与管理系统 | DE-PRD | V1.0 | 2022SR0223143 | - | 2020-10-20 | 2022-02-14 |
4 | 广立微半导体良率分析与管理系统 | DE-YMS | V1.0 | 2021SR1514852 | - | - | 2021-10-15 |
5 | 广立微电学参数测试数据分析系统 | DE-TMA | V1.0 | 2021SR1157563 | - | - | 2021-08-05 |
6 | 广立微半导体射频数据分析系统 | DERFA | V1.0 | 2021SR0991936 | - | - | 2021-07-06 |
7 | 广立微半导体通用数据分析软件 | DEG | V1.0 | 2021SR0960163 | - | - | 2021-06-28 |
8 | 广立微可寻址测试芯片自动化设计软件 | ATCompiler | V1.0 | 2021SR0307788 | - | 2020-10-20 | 2021-02-26 |
9 | 广立微半导体数据分析软件 | DataExp | V1.0 | 2021SR0307775 | - | 2020-10-26 | 2021-02-26 |
10 | 广立微基于产品版图的测试芯片专用软件 | ICSpider | V1.0 | 2021SR0307774 | - | 2020-09-30 | 2021-02-26 |
作品著作权0
网站备案9
序号 | 网站名 | 网址 | 备案号 | 主办单位性质 | 审核日期 |
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1 | 杭州广立微电子股份有限公司 | www.semitronix.com.cn | 浙ICP备2021003814号 | 企业 | 2021-02-10 |
2 | 杭州广立微电子股份有限公司 | www.semitronix.cn | 浙ICP备2021003814号 | 企业 | 2021-02-10 |
3 | 杭州广立微电子股份有限公司 | www.semitronix.com.cn | 浙ICP备2021003814号 | 企业 | 2021-02-10 |
4 | 杭州广立微电子股份有限公司 | www.semitronix.cn | 浙ICP备2021003814号 | 企业 | 2021-02-10 |
5 | - | www.semitronix.com.cn | 浙ICP备2021003814号 | 企业 | 2021-02-10 |
6 | - | www.semitronix.cn | 浙ICP备2021003814号 | 企业 | 2021-02-10 |
7 | 杭州广立微电子股份有限公司 | www.semitronix.com | 浙ICP备2021003814号 | 企业 | 2021-02-04 |
8 | 杭州广立微电子股份有限公司 | www.semitronix.com | 浙ICP备2021003814号 | 企业 | 2021-02-04 |
9 | - | www.semitronix.com | 浙ICP备2021003814号 | 企业 | 2021-02-04 |
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