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    北京自动测试技术研究所有限公司

    开业
    • 地址:北京市海淀区北三环中路31号
    • 简介:-
    • 商标信息 0
    • 专利信息 65
    • 软件著作权 61
    • 作品著作权 0
    • 网站备案 2

    商标信息0

    暂无信息 暂无商标信息

    专利信息65

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 一种集成电路测试系统的数字测试模块 实用新型 CN201922309521.6 CN212031657U 2020-11-27
    2 一种集成电路测试系统的运放测试模块 实用新型 CN201922309507.6 CN212031656U 2020-11-27
    3 一种片上系统芯片的测试方法及系统 发明专利 CN201911401980.5 CN111025134A 2020-04-17
    4 Per-Pin结构VXI总线测试系统时间沿校准模块 实用新型 CN201822002648.9 CN209014973U 2019-06-21
    5 Per-Pin结构VXI总线测试系统PMU校准模块 实用新型 CN201822002599.9 CN209014972U 2019-06-21
    6 一种主动式测试向量匹配方法 发明专利 CN201610757297.5 CN106405373B 2019-06-21
    7 一种用于HDMI接口的测试装置及测试方法 发明专利 CN201611238488.7 CN106657986B 2019-04-23
    8 一种用于频率信号发生芯片的修调装置 发明专利 CN201511019883.1 CN105790736B 2018-11-02
    9 一种实验室设备前端智能信息采集系统 实用新型 CN201721916391.7 CN207623750U 2018-07-17
    10 一种循环冗余校验方法、设备及存储介质 发明专利 CN201711472801.8 CN108233944A 2018-06-29

    软件著作权61

    序号 软件名称 软件简称 版本号 登记号 分类号 首次发表日期 登记批准日期
    1 一种具有EEPROM的SPI接口芯片测试软件 - V1.0 2019SR1126659 30200-4000 - 2019-11-07
    2 测试向量文件格式化软件 - V1.0 2019SR0814601 30200-4000 - 2019-08-06
    3 点阵式存储器映射LCD Driver芯片测试软件 - V1.0 2019SR0018123 30200-4000 - 2019-01-07
    4 测试向量开发软件 - V1.0 2019SR0013215 30200-4000 - 2019-01-04
    5 实验室设备管理系统 - V1.0 2018SR151658 10100-0000 - 2018-03-07
    6 标准测试数据格式STDF转换软件 STDF转换 V1.0 2017SR375973 30200-4000 - 2017-07-17
    7 专用音视频解码芯片测试软件 音视频解码芯片测试 V1.0 2017SR375936 30200-4000 - 2017-07-17
    8 液晶屏显示驱动(LCD Driver)芯片的成品测试系统 - V1.0 2016SR009256 30100-4000 2015-10-31 2016-01-14
    9 液晶屏显示驱动(LCD Driver)芯片的晶圆测试系统 - V1.0 2016SR009247 30100-4000 2015-11-25 2016-01-14
    10 存储集成电路可靠性加速试验智能监测评价软件 - V1.0 2014SR210876 30200-0000 2014-09-10 2014-12-26

    作品著作权0

    暂无信息 暂无作品著作权

    网站备案2

    序号 网站名 网址 备案号 主办单位性质 审核日期
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