商标信息6
序号 | 商标 | 商标名称 | 国际分类 | 注册号 | 状态 | 申请日期 | 操作 |
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澳
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澳芯 | 09类-科学仪器 | 55452061 | 等待实质审查 | 2021-04-22 | 查看 |
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澳
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澳芯 | 40类-材料加工 | 55452060 | 商标已注册 | 2021-04-22 | 查看 |
3 |
澳
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澳芯 | 42类-网站服务 | 55452059 | 等待实质审查 | 2021-04-22 | 查看 |
4 |
图
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图形 | 09类-科学仪器 | 55452058 | 商标已注册 | 2021-04-22 | 查看 |
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图
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图形 | 40类-材料加工 | 55452057 | 商标已注册 | 2021-04-22 | 查看 |
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图
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图形 | 42类-网站服务 | 55452056 | 商标已注册 | 2021-04-22 | 查看 |
专利信息728
序号 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公告)号 | 公布日期 |
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1 | 一种权限管理方法、装置、系统及介质 | 发明专利 | CN202210189482.4 | CN114553576A | 2022-05-27 |
2 | 存内计算单元、模块和系统 | 发明专利 | CN202210046432.0 | CN114546332A | 2022-05-27 |
3 | 一种FDSOI器件的沟道制作工艺优化方法 | 发明专利 | CN202210096839.4 | CN114121677B | 2022-05-27 |
4 | 金属栅极的制备方法及CMOS器件的制备方法 | 发明专利 | CN202210107875.6 | CN114512396A | 2022-05-17 |
5 | 一种用于集成电路的接触孔的蚀刻结构和方法 | 发明专利 | CN202210077313.1 | CN114496913A | 2022-05-13 |
6 | 一种半导体结构及其制造方法 | 发明专利 | CN202210126415.8 | CN114496903A | 2022-05-13 |
7 | 一种finfet的制造方法 | 发明专利 | CN202210096848.3 | CN114121678B | 2022-04-29 |
8 | 一种FDSOI硅外延生长工艺优化方法 | 发明专利 | CN202210096862.3 | CN114121612B | 2022-04-29 |
9 | 一种介电层平坦度优化的方法及装置 | 发明专利 | CN202210031918.7 | CN114388428A | 2022-04-22 |
10 | 一种铝衬垫刻蚀聚合物去除方法 | 发明专利 | CN202210033150.7 | CN114388360A | 2022-04-22 |
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