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  • 宏泰

    南京宏泰半导体科技股份有限公司

    存续
    • 地址:南京市浦口区兰花路19号江苏可成科技产业园南园26号楼2层
    • 简介:-
    • 商标信息 4
    • 专利信息 73
    • 软件著作权 0
    • 作品著作权 0
    • 网站备案 2

    商标信息4

    序号 商标名称 国际分类 注册号 状态 申请日期 操作
    1 MACRTEST 09类-科学仪器 40715452 商标已注册 2019-08-30 查看
    2 AZUR TEST 09类-科学仪器 39984358 商标无效 2019-07-29 查看
    3 AZUR 09类-科学仪器 39977091 商标已注册 2019-07-29 查看
    4 MACROTEST SEMICONDUCTOR 09类-科学仪器 8286084 商标已注册 2010-05-11 查看

    专利信息73

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 一种多核测试处理器及集成电路测试系统与方法 发明专利 CN202111040904.3 CN113514759A 2021-10-19
    2 一种半导体测试系统的校准装置及方法 发明专利 CN202111021590.2 CN113447874A 2021-09-28
    3 一种面向SOC芯片的多时钟域并发测试系统及其测试方法 发明专利 CN202110746890.0 CN113190394B 2021-09-28
    4 一种基于图形化控制的混合信号测试装置 发明专利 CN202110992479.1 CN113433450A 2021-09-24
    5 一种半导体测试系统的开关切换电路及方法 发明专利 CN202110689258.7 CN113252950B 2021-09-24
    6 一种半导体测试系统的开关切换电路及方法 发明专利 CN202110689258.7 CN113252950A 2021-09-24
    7 一种具有可程控通断测试线缆组件的测试系统 实用新型 CN202121888449.8 CN214174912U 2021-09-10
    8 数字检测装置(MS8000) 外观专利 CN202130275174.X CN306776223S 2021-08-24
    9 一种基于FPGA的速率可调快速扫描测试硬件电路 实用新型 CN202022504865.5 CN214011435U 2021-08-20
    10 一种解决晶圆测试中共衬底的情况下不能多site并测的方法 发明专利 CN202011081499.5 CN112201588B 2021-08-17

    软件著作权0

    暂无信息 暂无软件著作权

    作品著作权0

    暂无信息 暂无作品著作权

    网站备案2

    序号 网站名 网址 备案号 主办单位性质 审核日期
    1 南京宏泰半导体科技有限公司 www.macrotest.com.cn 苏ICP备20031361号 企业 2020-05-29
    2 南京宏泰半导体科技有限公司 www.macrotest.com.cn 苏ICP备20031361号 企业 2020-05-29
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