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商标信息10

序号	商标名称	国际分类	注册号	状态	申请日期	操作
1	图形	35类-广告销售	46956257	商标已注册	2020-06-04	查看
2	图形	09类-科学仪器	42124744	商标无效	2019-11-05	查看
3	IC WORLD	09类-科学仪器	42117002	商标已注册	2019-11-05	查看
4	图形	41类-教育娱乐	42112967	商标已注册	2019-11-05	查看
5	图形	09类-科学仪器	42112951	商标已注册	2019-11-05	查看
6	图形	35类-广告销售	42111081	商标已注册	2019-11-05	查看
7	-	35类-广告销售	42111079	等待实质审查	2019-11-05	查看
8	图形	41类-教育娱乐	42108208	商标已注册	2019-11-05	查看
9	IC WORLD	41类-教育娱乐	42108204	商标无效	2019-11-05	查看
10	IC WORLD	35类-广告销售	42106267	商标无效	2019-11-05	查看

专利信息13

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	半导体结构及其形成方法	发明专利	CN202010271232.6	CN113496896A	2021-10-12
2	光刻设备的微粒检测方法	发明专利	CN201610236693.3	CN107301959B	2019-09-17
3	一种工艺开发包中参数化单元的DRC验证方法	发明专利	CN201410184633.2	CN105095535B	2019-09-03
4	一种阻变存储器及其制备方法、电子装置	发明专利	CN201410494486.9	CN105514264B	2018-09-21
5	研磨垫整理方法、研磨垫整理器及研磨机台	发明专利	CN201210225955.8	CN103522188B	2018-07-20
6	测量晶圆电阻率的装置及方法	发明专利	CN201310261115.1	CN104251935B	2018-03-06
7	光刻设备的微粒检测方法	发明专利	CN201610236693.3	CN107301959A	2017-10-27
8	一种半导体器件的制造方法	发明专利	CN201210398960.9	CN103779277B	2017-06-13
9	一种阻变存储器及其制备方法、电子装置	发明专利	CN201410494486.9	CN105514264A	2016-04-20
10	一种工艺开发包中参数化单元的DRC验证方法	发明专利	CN201410184633.2	CN105095535A	2015-11-25

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