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商标信息 2
专利信息 8
软件著作权 12
作品著作权 0
网站备案 1

商标信息2

序号	商标名称	国际分类	注册号	状态	申请日期	操作
1	SANPOWER	-	18525066	商标无效	2015-12-07	查看
2	SP SANPOWER	-	18525065	商标已注册	2015-12-07	查看

专利信息8

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	一种晶圆高精密厚度研磨在线控制设备	实用新型	CN202120333494.0	CN215036461U	2021-12-07
2	一种晶圆厚度激光全自动测试机	实用新型	CN202120333771.8	CN214951140U	2021-11-30
3	一种晶圆平面度手动测试仪	实用新型	CN202120334565.9	CN214666668U	2021-11-09
4	一种晶圆高精度非接触式激光厚度测量仪	实用新型	CN202120334096.0	CN214095934U	2021-08-31
5	一种晶圆平坦度与厚度测试设备	实用新型	CN202120334584.1	CN214068696U	2021-08-27
6	一种晶圆共聚焦平面度测试仪	实用新型	CN202120333696.5	CN214066000U	2021-08-27
7	一种晶圆厚度激光全自动测试机	发明专利	CN202110164246.2	CN112797907A	2021-05-14
8	一种晶圆高精密厚度研磨在线控制设备	发明专利	CN202110164193.4	CN112775820A	2021-05-11

软件著作权12

序号	软件名称	软件简称	版本号	登记号	分类号	首次发表日期	登记批准日期
1	TMI-A型高精度非接触式激光厚度测量系统	-	V1.0	2021SR0359110	-	2017-05-24	2021-03-09
2	CAM(camera)蓝宝石衬底片外观检查系统	CAM外观检查系统	V1.0	2020SR0788987	-	-	2020-07-17
3	MRC(microscope)显微晶片位错检查系统	MRC位错检测系统	V1.0	2020SR0788973	-	-	2020-07-17
4	ALC研磨厚度测控系统	ALC測厚系统	V1.0	2020SR0788966	-	-	2020-07-17
5	LST共聚焦法平面度测试系统	LST共焦测平系统	V1.0	2020SR0786784	-	-	2020-07-17
6	CAM(camera)01金属表面瑕疵检查系统	CAM外观检查系统	V1.0	2020SR0786423	-	-	2020-07-17
7	ALC研磨频率测控系统	ALC测频系统	V1.0	2020SR0780804	-	-	2020-07-16
8	NIM（near infrared measurement）硅片应力缺陷检查系统	NIM应力缺陷检测系统	V1.0	2020SR0780748	-	-	2020-07-16
9	TCS涡电流厚度测控系统	TCS涡电流測厚系统	V1.0	2020SR0779024	-	-	2020-07-16
10	LINT-208GA全自动型平面度测试系统	208GA全自动系统	V1.1	2018SR844092	30200-0000	2005-08-05	2018-10-23

作品著作权0

暂无信息

暂无作品著作权

网站备案1

序号	网站名	网址	备案号	主办单位性质	审核日期
1	-	www.sanhetaida.com	京ICP备16008320号	企业	2016-02-22

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