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商标信息3

序号	商标名称	国际分类	注册号	状态	申请日期	操作
1	图形	42类-网站服务	59863376	等待实质审查	2021-10-15	查看
2	图形	35类-广告销售	59854528	等待实质审查	2021-10-15	查看
3	图形	09类-科学仪器	59848816	等待实质审查	2021-10-15	查看

专利信息15

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	一种碳化硅晶圆贯穿型管道缺陷的检测方法及装置	发明专利	CN202110988095.2	CN113758641A	2021-12-07
2	用于解决碳化硅晶圆化学机械抛光后产生局部高点的方法、陶瓷盘、化学机械抛光装置	发明专利	CN202110988094.8	CN113681456A	2021-11-23
3	高纯半绝缘SiC单晶的制备方法	发明专利	CN202010691891.5	CN111893564B	2021-10-29
4	一种高质量大直径SiC单晶的制备装置	实用新型	CN202021499230.4	CN212771047U	2021-03-23
5	一种基于可控生长中心制备碳化硅单晶的方法	发明专利	CN201910881831.7	CN110656376B	2021-02-26
6	一种低应力碳化硅单晶的籽晶安装装置及晶体生长工艺	发明专利	CN201910762897.4	CN110541195B	2021-02-26
7	一种低缺陷密度SiC单晶的制备装置	实用新型	CN202021500700.4	CN212451746U	2021-02-02
8	碳化硅单晶快速扩径生长系统	实用新型	CN202021415249.6	CN212451745U	2021-02-02
9	高纯半绝缘SiC单晶的制备方法	发明专利	CN202010691891.5	CN111893564A	2020-11-06
10	一种碳化硅晶片化学机械抛光后表面保护方法	发明专利	CN202010691694.3	CN111883416A	2020-11-03

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