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  • 烁科晶体

    山西烁科晶体有限公司

    存续
    • 官网:-
    • 地址:山西综改示范区太原潇河园区汾潇街9号
    • 简介:-
    • 商标信息 36
    • 专利信息 38
    • 软件著作权 0
    • 作品著作权 1
    • 网站备案 0

    商标信息36

    序号 商标名称 国际分类 注册号 状态 申请日期 操作
    1 SEMISIC 12类-运输工具 60831646 等待实质审查 2021-11-23 查看
    2 SEMISIC 35类-广告销售 60826601 等待实质审查 2021-11-23 查看
    3 SEMISIC 38类-通讯服务 60826600 等待实质审查 2021-11-23 查看
    4 SEMISIC 42类-网站服务 60826594 等待实质审查 2021-11-23 查看
    5 SEMISIC 01类-化学原料 60825567 等待实质审查 2021-11-23 查看
    6 SEMISIC 16类-办公用品 60817326 等待实质审查 2021-11-23 查看
    7 SEMISIC 39类-运输贮藏 60815833 等待实质审查 2021-11-23 查看
    8 SEMISIC 40类-材料加工 60815831 等待实质审查 2021-11-23 查看
    9 SEMISIC 09类-科学仪器 60812581 等待实质审查 2021-11-23 查看
    10 SEMISIC 03类-日化用品 60801304 等待实质审查 2021-11-23 查看

    专利信息38

    序号 专利名称 专利类型 申请号 公开(公告)号 公布日期
    1 一种冷却可控的碳化硅单晶生长装置 实用新型 CN202122399065.6 CN215713525U 2022-02-01
    2 一种半导体级硅粉的纯化方法 发明专利 CN202111337818.9 CN113772675A 2021-12-10
    3 一种半导体级石墨粉的纯化方法 发明专利 CN202111311118.2 CN113735110A 2021-12-03
    4 一种真空腔体检漏辅助喷枪 实用新型 CN202121119056.0 CN214893894U 2021-11-26
    5 一种用于取用粉体时防止粉体扩散的集尘装置 实用新型 CN202120862573.0 CN214866026U 2021-11-26
    6 一种优化碳化硅晶片电阻率的辐照方法 发明专利 CN202110867806.0 CN113668064A 2021-11-19
    7 碳化硅双面抛光中硅面及碳面去除厚度的测定方法 发明专利 CN202110867779.7 CN113664694A 2021-11-19
    8 一种用于测量贴合在陶瓷盘上晶片平整度的工装 实用新型 CN202120863519.8 CN214621118U 2021-11-05
    9 一种振筛机粉末去除装置 实用新型 CN202120630156.3 CN214600318U 2021-11-05
    10 碳化硅双面抛光中单面抛光速率的测定方法 发明专利 CN202110917059.7 CN113601376A 2021-11-05

    软件著作权0

    暂无信息 暂无软件著作权

    作品著作权1

    序号 作品名 作品类别 登记号 创作完成日期 首次发表日期 登记批准日期
    1 UNIMOSS - 国作登字-2019-F-00741808 - 2018 2019

    网站备案0

    暂无信息 暂无网站备案
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