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商标信息 6
专利信息 26
软件著作权 4
作品著作权 0
网站备案 0

商标信息6

序号	商标名称	国际分类	注册号	状态	申请日期	操作
1	乐东微 LD	-	13801941	商标无效	2013-12-25	查看
2	乐东微 LD	-	13801864	商标已注册	2013-12-25	查看
3	乐东微 LD	-	13801819	商标无效	2013-12-25	查看
4	LD 乐东微	-	13801783	商标无效	2013-12-25	查看
5	乐东微 LD	-	13801709	商标已注册	2013-12-25	查看
6	LD 乐东微	-	13801668	等待实质审查	2013-12-25	查看

专利信息26

序号	专利名称	专利类型	申请号	公开（公告）号	公布日期
1	基于半导体冷凝片的酸循环纯化装置	实用新型	CN201921650809.3	CN211705933U	2020-10-20
2	基于超声波的半导体芯片缺陷检测系统	实用新型	CN201921685912.1	CN211652689U	2020-10-09
3	一种便于取用的单晶硅存储箱	实用新型	CN201921594050.1	CN211443313U	2020-09-08
4	一种单晶硅片的边角磨削装置	实用新型	CN201921613254.5	CN211305812U	2020-08-21
5	一种超声波单晶硅片清洗槽	实用新型	CN201921873971.1	CN210995606U	2020-07-14
6	一种单晶硅片垂直清洗装置	实用新型	CN201921861677.9	CN210995605U	2020-07-14
7	一种硅晶片清洗装置	实用新型	CN201921843890.7	CN210995512U	2020-07-14
8	半导体芯片的缺陷检测装置	实用新型	CN201921602351.4	CN210834704U	2020-06-23
9	一种单晶硅片的清洗烘干装置	发明专利	CN201911051124.1	CN110841973A	2020-02-28
10	一种清洗剂及应用清洗剂清洗半导体硅片的方法	发明专利	CN201911029424.X	CN110804502A	2020-02-18

软件著作权4

序号	软件名称	软件简称	版本号	登记号	分类号	首次发表日期	登记批准日期
1	半导体级单晶硅片控制软件	-	V1.0	2017SR338524	-	-	2017-07-03
2	半导体级高纯化剂制备工艺的研发软件	-	V1.0	2017SR338519	-	-	2017-07-03
3	半导体级单晶硅片生产工艺研发软件	-	V1.0	2017SR338514	-	-	2017-07-03
4	半导体芯片缺陷分析系统	-	V1.0	2017SR338509	-	-	2017-07-03

作品著作权0

暂无信息

暂无作品著作权

网站备案0

暂无信息

暂无网站备案

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